Occasion KEYENCE LA-2010 #9253571 à vendre en France

KEYENCE LA-2010 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour les procédés de fabrication de semi-conducteurs. Il utilise une technologie de pointe pour analyser les caractéristiques microscopiques de diverses plaquettes, telles que le silicium, l'arséniure de gallium et d'autres semi-conducteurs. Le système dispose d'un large éventail de mesures et de capacités d'analyse, qui comprennent des mesures à l'échelle nanométrique, l'imagerie 3D, l'analyse des défauts, et des essais de rugosité de surface. LA-2010 est équipé de deux systèmes optiques intégrés, l'un avec un SEM (microscope électronique à balayage) et l'autre avec un microscope interférométrique, lui permettant d'images et d'analyser des plaquettes de diverses manières. Cela inclut l'utilisation de l'imagerie SEM, où un faisceau d'électrons focalisés balaye la surface de la plaquette, créant des images avec une résolution jusqu'à 15 nanomètres. Avec le microscope interférométrique, KEYENCE LA-2010 peut mesurer la topographie de surface de la plaquette avec une précision dans la gamme des nanomètres. Les capacités d'imagerie tridimensionnelle de l'unité lui permettent d'identifier avec précision les défauts sur la plaquette. LA-2010 dispose également d'un large éventail de capacités d'analyse, telles que l'analyse des défauts et de la rugosité de surface, ainsi que la segmentation d'image pour détecter les défauts en couches. Grâce à sa technologie de reconnaissance des motifs, la machine peut identifier avec précision les motifs à la surface de la plaquette. Ceci est particulièrement intéressant lors de l'évaluation des couches et structures nanométriques. En outre, KEYENCE LA-2010 peut mesurer la résistivité et les propriétés diélectriques des plaquettes, ainsi que générer des cartes numériques de haute précision des élévations de la surface. LA-2010 est un outil fiable et puissant qui peut aider les fabricants de semi-conducteurs à garantir la plus haute qualité de leurs plaquettes. La gamme complète de caractéristiques et de capacités d'analyse de l'actif permet l'inspection et les essais les plus précis des plaquettes semi-conductrices. Grâce à KEYENCE LA-2010, les fabricants peuvent rapidement et efficacement identifier les défauts, analyser les caractéristiques des plaquettes et s'assurer que celles-ci répondent aux normes de qualité et aux exigences des clients.