Occasion KEYENCE LK-011 #9178517 à vendre en France

KEYENCE LK-011 est l'un des systèmes de test et de métrologie de plaquettes les plus avancés sur le marché. Il est conçu pour fournir des tests et des mesures précises et fiables de différentes surfaces de plaquettes semi-conductrices. L'équipement intègre une gamme d'outils sophistiqués d'inspection et de métrologie dans un système très efficace qui effectue une grande variété de tâches de mesure. LK-011 dispose d'un microscope optique haute résolution avec deux sources lumineuses : une lampe LED pour une faible résolution en grains et une LED haute performance pour une haute résolution en grains. Le microscope peut observer des échantillons jusqu'à 100x grossissement, ce qui signifie que l'unité peut fournir des images très détaillées de la surface de la plaquette. La machine utilise une technologie d'imagerie avancée pour identifier les irrégularités, les défauts ou les caractéristiques inattendues. L'outil dispose également d'un outil de métrologie laser à deux axes qui fournit des mesures très précises. Il utilise deux faisceaux laser qui se déplacent selon deux axes distincts. L'appareil est capable de détecter la hauteur, la largeur et la profondeur de toutes les caractéristiques sur la surface de la plaquette, ainsi que de mesurer la taille des particules et d'autres paramètres. L'actif offre des mesures extrêmement précises avec une résolution de 1 nm. KEYENCE LK-011 comprend également un moniteur de focalisation intégré, qui assure continuellement que la surface de la plaquette est toujours en focale nette. Le moniteur de focus utilise un modèle autofocus qui ajuste automatiquement le focus à la position optimale. L'équipement dispose également d'un système automatisé de détection des défauts qui permet d'identifier de petits défauts et irrégularités qui ne peuvent être vus par l'oeil humain. L'unité est également équipée d'un outil d'analyse de données permettant de comparer des mesures multiples à des règles et exigences définies par l'utilisateur. Les résultats peuvent ensuite être stockés dans la base de données de la machine et utilisés à des fins de contrôle de la qualité et de traçabilité. Les données peuvent également être exportées pour une analyse et un dépannage supplémentaires. Globalement, LK-011 est une solution de test et de métrologie de plaquettes extrêmement puissante et avancée pour les fabricants de semi-conducteurs. Il fournit des mesures fiables et précises pour assurer la plus haute qualité possible pour les plaquettes semi-conductrices. En rationalisant l'ensemble du processus d'essai et de métrologie, l'outil contribue à réduire les coûts et à améliorer la productivité.