Occasion KEYENCE LK-3101 #9178518 à vendre en France

KEYENCE LK-3101 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution de métrologie avancée pour une grande variété d'applications industrielles. Il combine des capacités de test 3D rapides, sans contact, de défaut et de mesure de forme avec une interface utilisateur graphique conviviale et intuitive. LK-3101 Wafer Testing and Metrology System dispose d'un ensemble de technologies de pointe spécifiquement conçues pour tester les plaquettes, y compris un alignement radial Q-Nulled qui permet de s'assurer que tous les points de test sur une plaquette sont bien situés pour assurer une précision maximale. De plus, l'unité comprend une inspection interférométrique qui mesure rapidement et non destructivement les épaisseurs des plaquettes, les couches minces et d'autres propriétés. La machine dispose également d'un outil de segmentation avancé qui peut détecter de petites caractéristiques sur une plaquette pour une mesure rapide et précise et d'un outil d'alignement qui reconnaît correctement la surface plane d'une plaquette quelle que soit l'orientation de la plaquette. Cela garantit une précision maximale avec des plaquettes de toutes les dimensions et de toutes les formes. En plus de mesurer les défauts sur une plaquette, le logiciel KEYENCE LK-3101 Wafer Testing and Metrology Asset fournit également de nombreuses fonctions avancées, y compris des opérations mathématiques telles que l'unification et le tri des données, la séparation des défauts, les fonctions de mesure, la compression des données et la création de contours et de profils de surface 3D. Les données peuvent également être représentées dans différents formats graphiques tels que les images 2D et 3D, et le modèle peut également être relié à des bases de données et à d'autres applications logicielles externes. LK-3101 Wafer Testing and Metrology Equipment est adapté à toute application qui nécessite des solutions de test de wafer fiables, précises et rapides, et il peut également être mis à jour avec des options supplémentaires telles qu'un éditeur pour le langage de programmation et une bibliothèque graphique avancée pour l'interface utilisateur graphique. Avec son débit élevé et ses excellents résultats, le système est l'une des solutions de métrologie les plus avancées disponibles sur le marché aujourd'hui.