Occasion KEYENCE LK-G11 #9109318 à vendre en France

KEYENCE LK-G11 est un équipement automatisé d'essai de plaquettes et de métrologie qui est utilisé pour inspecter les plaquettes semi-conductrices pour détecter une variété de défauts et de caractéristiques. Le système est capable d'effectuer des mesures de haute précision et de tester plusieurs plaquettes simultanément. L'unité est basée sur un port de chargement automatique de 200mm et peut accepter TEL (Chargeur d'examen supérieur), FOUP (Pod unifié d'ouverture avant), et des cassettes de spécimen JEDEC. Il est capable de reconnaissance de motifs à l'aide d'un microscope dédié et il est équipé d'une gamme d'applications matérielles et logicielles avec diverses fonctions de caractérisation. Il peut être utilisé pour inspecter une gamme de plaquettes semi-conductrices dont GaAs (Arsenide de Gallium), Si (Silicium), SiGe (Silicium-Germanium), SOI (Silicium sur Isolant) et COO (Complementary On-Off). La machine est construite avec une fonction de mesure de haute précision qui utilise des échelles optiques et linéaires indépendantes pour des mesures précises. Il est également équipé de fonctions pour la cartographie de paramètres multi-points, qui peuvent mesurer et examiner plusieurs points sur une plaquette simultanément et peuvent mesurer avec précision les caractéristiques du produit sur une seule plaquette. Il peut également être utilisé pour analyser les caractéristiques électriques du produit et détecter et mesurer les défauts au niveau micro, tels que les rayures, les copeaux et les défauts de pont, ainsi que la topographie et la contamination de surface du produit. Le logiciel avancé de l'outil permet une acquisition de données facile sur la plaquette, avec plusieurs fonctions variables et métrologie. Il est également capable de générer des rapports avec des fonctions graphiques Wafer Map et de rapports statistiques, permettant l'analyse des données de mesure de diverses manières. LK-G11 fournit un moyen fiable et précis d'inspecter et de tester une gamme de différents échantillons et produits de plaquettes, ce qui en fait un outil inestimable pour les laboratoires impliqués dans le traitement et la métrologie des plaquettes semi-conductrices.