Occasion KIC 2000 #9360988 à vendre en France

KIC 2000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui offre à la fois des capacités d'essai de plaquettes et de métrologie pour les processus de production de plaquettes semi-conductrices. Il est basé sur un microscope électronique à balayage (SEM) et un microscope optique pour le contrôle des processus sur les plaquettes fortement dopées et à texturation chimique. Le système comprend l'acquisition simultanée et l'analyse simultanée des dimensions et propriétés critiques telles que l'épaisseur du film, la topographie de surface et l'inspection des défauts. L'unité dispose également de capacités de piquage d'image pour contrôler la page Warafer post fabrication. La machine est adaptée à des technologies telles que le Silicon on Insulator (SOI) et l'emballage de niveau de plaquettes arrachées (AWLP). 2000 utilise un SEM de Zeiss Auriga et un microscope optique équipé de la technologie exclusive d'inspection des défauts haute résolution (HRDI) de Kla-Tencor. Cette technologie permet d'automatiser le balayage, la détection et la classification des défauts des plaquettes en moins de 60 secondes. Le SEM haute résolution minimise l'interférence du signal des effets de bord et permet toute mesure de 1 µm à 3 mm avec une grande précision. Le microscope optique dispose d'une plate-forme d'analyse à l'état solide avec des capacités intégrées pour diverses applications telles que CD, DTA et SSP. L'actif de lecture du CD supporte des résolutions de 0,1 µm à > 3 mm. KIC 2000 dispose également du logiciel de Kla-Tencor pour optimiser les configurations et les modèles de test et faciliter l'intégration des processus de niveau des plaquettes existants. Le logiciel peut surveiller, prédire et diagnostiquer les défauts au niveau de la plaquette à partir des données de test acquises. De plus, il permet de visualiser les données simultanées de l'optique et du SEM en temps réel. Il fournit également la collecte et l'analyse automatisées de données sur les métriques de chaîne de wafer et de profil de bord, ainsi que la couverture des fonctions, ainsi que les mesures automatiques de l'axe Z et la couture. Le logiciel est construit avec une interface de programmation intelligente, une interface conviviale et une impression de données RCP précise qui est conforme aux normes de l'industrie. En résumé, 2000 est un modèle complet d'essai de plaquettes et de métrologie qui fournit des capacités automatisées d'inspection 2D, de métrologie 3D et de couture d'images pour diverses applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est équipé de la technologie HRDI pour un transfert d'image SEM plus rapide et des images à plus haute résolution. En outre, l'équipement est intégré à SEMVision pour des modèles de test optimisés et une intégration facile des processus de niveau de plaquette existants.