Occasion KIC THERMAL SlimKIC II #114986 à vendre en France

KIC THERMAL SlimKIC II Impulse Wafer Testing and Metrology Equipment est un scanner infrarouge avancé conçu pour les essais de wafer à grande vitesse. Le système se compose d'une caméra infrarouge, d'un étage de balayage vertical et d'un positionneur de précision. La caméra haute résolution utilise la dernière technologie pour recueillir des données numériques à partir de spécimens sans contact, permettant des mesures métrologiques rapides et précises. Le positionneur de précision assure un positionnement précis de l'échantillon sur l'étage avant la mesure. L'étage de balayage vertical offre une capacité de balayage rapide et de haute précision. L'unité SlimKIC II est conçue pour détecter rapidement et de manière fiable les anomalies des plaquettes lors de l'inspection. Il utilise des algorithmes d'analyse d'images pour identifier rapidement les défauts majeurs et mineurs. La machine est capable de détecter de petits défauts de surface tels que des copeaux en creux, des ponts, des balayages et des dommages de jonction. Les capacités d'imagerie avancées de l'outil lui permettent de détecter les variations de température à la surface de l'échantillon, fournissant un moyen efficace de gérer la fiabilité de la mesure thermique. KIC THERMAL SlimKIC II soutient un large éventail d'applications de métrologie, y compris les mesures de hauteur des marches, les mesures de planéité et de micro-géométrie, et la mesure de résistance. Ses capacités de microscopie optique sont inégalées, ce qui lui permet de mesurer les structures de surface fines et les différences de contraste. Il est capable d'examiner une variété de matériaux, y compris le silicium et d'autres matériaux semi-conducteurs, permettant des tests rapides et efficaces. Le modèle SlimKIC II est très fiable et facile à utiliser. Il fournit des tests rapides et précis dans un environnement contrôlé par la température, permettant d'obtenir des résultats de mesure précis et reproductibles. L'équipement est également très flexible, ce qui permet aux utilisateurs d'apporter des modifications à l'installation de test rapidement et facilement. Grâce à sa technologie de pointe, à ses contrôles intuitifs et à ses performances exceptionnelles, KIC THERMAL SlimKIC II Impulse Wafer Testing and Metrology System est un choix idéal pour effectuer des tests de wafer haute vitesse avec précision et précision. L'unité est un atout inestimable pour tout laboratoire ou installation de production, et son rapport coût-efficacité en fait une excellente valeur.