Occasion KLA / TENCOR 0266951-001AA #9401899 à vendre en France

L'équipement d'essai et de métrologie KLA/TENCOR 0266951-001AA est un système de pointe conçu pour fournir des mesures répétables et de haute précision au niveau du nanomètre et plus rapidement. L'unité combine une foule de matériel, de logiciels et d'outils d'étalonnage pour fournir une analyse détaillée des surfaces et des matériaux étrangers des circuits intégrés (IC) sous forme de plaquettes. La partie matérielle de la machine est constituée d'un étage de plaquette actif qui permet de charger jusqu'à cinq plaquettes à la fois, d'un outil d'alignement automatisé, ainsi que d'un instrument de mesure dimensionnel intégré (microscope) et de caméras vidéo numériques doubles. La partie logicielle comprend un module d'acquisition d'images, un module intégré d'analyse d'images et un générateur automatisé de rapports. L'actif d'alignement automatisé comprend un outil de prise de vide et un porte-échantillon motorisé qui travaille ensemble pour assurer un positionnement précis et reproductible des plaquettes et de tout autre objet chargé sur l'étage de plaquette. Le microscope permet à l'opérateur d'inspecter des appareils à très grande distance, avec des résolutions allant jusqu'à 40X, pour détecter des défauts de surface et d'autres anomalies. Les doubles caméras vidéo numériques permettent à l'opérateur de revoir des images jusqu'à 1000X. Le module d'acquisition d'images acquiert des images dans une grande variété de formats, y compris monochrome, RVB, YUV, et plusieurs autres, et permet à l'opérateur de définir et d'ajuster des valeurs de gain, de luminance et d'offset. Le module d'analyse d'image mesure la taille, la forme et le placement du dispositif, et calcule les défauts éventuels. Le générateur automatisé de rapports recueille, regroupe et compile des données dans un rapport compatible Excel. KLA 0266951-001AA est conçu pour les mesures les plus exigeantes, avec la capacité de mesurer jusqu'à des niveaux de nanomètre, jusqu'à 20 millions de points ou plus par plaquette, et avec une précision de répétabilité de 2 sigma. Le modèle est un outil puissant et fiable pour le contrôle de la qualité et l'analyse des IC et autres dispositifs sous forme de plaquettes, ce qui en fait un atout inestimable pour tout fabricant ou toute installation de recherche.