Occasion KLA / TENCOR 10-02000 #9248699 à vendre en France

KLA/TENCOR 10-02000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui permet une détection rapide, fiable et précise des défauts des plaquettes semi-conductrices. Le système utilise une technologie sophistiquée pour fournir une capacité supérieure d'imagerie, d'analyse et de surveillance des processus de wafer. L'unité utilise des techniques d'imagerie et d'analyse avancées pour détecter et analyser des formes arbitraires, intégrer de grandes bases de données de motifs, créer et évaluer des analyses comparatives et effectuer des mesures optiques non destructives sur diverses structures, telles que des images à haute résolution de lignes et des structures 3D. Il intègre un fonctionnement automatisé afin qu'il puisse inspecter et mesurer rapidement et avec précision une variété de configurations de plaquettes. Le KLA 10-02000 est conçu pour une inspection améliorée de la voie de passage du silicium (TSV), ainsi que pour des comparaisons de tranches à plaquettes et des comparaisons de tranches à filières pour des augmentations de rendement. Il a un processus répétable qui permet d'identifier ultérieurement tout défaut ou défaut et contribue à assurer l'intégrité et la traçabilité du processus. La machine dispose également d'une table d'isolation des vibrations de pointe, permettant un positionnement précis des plaquettes et une précision métrologique. De plus, l'étage à température contrôlée assure une répétabilité supérieure pour toutes les mesures sensibles à la température. Il impressionne avec un puissant outil d'acquisition et d'analyse d'images qui soutient l'inspection avant-arrière complète des surfaces planes et des structures inclinées et traversées de silicium. Il comprend une caméra multi-spectrale à couplage de charge (CCD), ainsi qu'une optique avancée et un traitement d'image numérique. TENCOR 10-02000 offre une polyvalence et très peu d'entretien, ainsi que des résultats cohérents à chaque fois. Son faible coût et moins d'un pour cent de temps d'arrêt en font un excellent outil pour toute ligne de production. Il est également capable d'exécuter simultanément jusqu'à trois processus, et peut imprimer Wafer Maps pour vérifier l'intégrité des plaquettes, y compris l'épaisseur d'interconnexion et l'uniformité. Le 10-02000 offre un niveau inégalé de performance et de polyvalence pour les essais de plaquettes et la métrologie. En combinant des technologies avancées d'imagerie, d'analyse et de surveillance des processus de wafer, l'actif peut détecter, mesurer et analyser tout type de wafer avec rapidité et précision. Sa conception polyvalente le rend idéal pour une grande variété de besoins de test de plaquettes, tandis que ses performances fiables et ses faibles coûts de maintenance en font une solution rentable pour toute ligne de production.