Occasion KLA / TENCOR 1010 #9277070 à vendre en France

KLA/TENCOR 1010 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour soutenir à la fois la caractérisation au niveau de la recherche et la production à haut volume dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système est construit autour d'une interface utilisateur intuitive, permettant aux opérateurs de configurer, exécuter et analyser rapidement divers algorithmes de métrologie pour le test des plaquettes. L'unité KLA 1010 est conçue pour répondre aux besoins exigeants du processus de fabrication des semi-conducteurs. Il dispose d'une optique avancée pour contrôler les caractéristiques de la lumière utilisée dans les tests, ainsi que les suites d'algorithmes avancées pour saisir rapidement et avec précision les mesures des plaquettes de test. La machine fonctionne avec des échantillons à la fois transmissifs et réfléchissants, ce qui lui permet de saisir un large éventail de données de métrologie. L'optique avancée de l'outil consiste en un interféromètre laser, qui est utilisé pour produire des images 3D très détaillées des plaquettes. La configuration optique crée un plan focal à haute résolution qui permet à l'actif de capturer des points de données jusqu'à 20 fois plus précis que les méthodes traditionnelles de test des plaquettes. TENCOR 1010 offre une large gamme de capacités de mesure et de cartographie. Cela comprend la détection des caractéristiques, la détection de contamination, l'analyse de l'épaisseur des couches et l'analyse de la planéité. Il a une suite algorithmique robuste qui peut mesurer simultanément plusieurs couches d'une plaquette. En outre, le modèle peut également mesurer la planéité à travers plusieurs couches et identifier les défauts induits par le processus comme les micro-rayures et les trous de broche. KLA suite logicielle avancée offre également des capacités de visualisation de données qui permettent aux opérateurs de comparer les résultats des tests dans le temps. L'équipement est livré avec des outils d'analyse avancés pour comparer les données de test de wafer ainsi que des analyses prédictives qui peuvent identifier les problèmes potentiels avant qu'ils causent d'autres dommages. Le système offre également un large éventail de capacités de traçabilité qui contribuent à garantir le respect des normes de qualité et de réglementation. Dans l'ensemble, 1010 est une unité avancée conçue pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs. Avec sa puissante optique et ses suites algorithmiques avancées, la machine offre la flexibilité et la précision nécessaires à la caractérisation au niveau de la recherche, ainsi que des données fiables à long terme pour les mesures au niveau de la production. En tant que tel, il est l'outil idéal pour les fabricants de semi-conducteurs à la recherche d'une solution complète de test de plaquettes.