Occasion KLA / TENCOR 2.1 Surfscan #9043947 à vendre en France

KLA 2.1 Surfscan est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. Il utilise une gamme de technologies de pointe, telles que les diodes émettrices de photons, les panaches laser et d'autres systèmes optiques, pour inspecter les substrats des plaquettes semi-conductrices. Le système est conçu pour détecter les défauts à la surface des plaquettes, ce qui permet aux utilisateurs d'identifier et de régler tout problème au fur et à mesure. Le Surfscan 2.1 a un design robuste, de qualité industrielle, lui permettant de fonctionner dans des environnements de production de semi-conducteurs durs. Il se compose d'un contrôleur puissant, de multiples caméras et optiques à haute résolution, d'un contrôle de mouvement robuste et d'algorithmes de métrologie sophistiqués. L'unité utilise des méthodes avancées d'analyse d'image pour numériser rapidement les plaquettes et détecter toute variation par rapport au modèle attendu. La combinaison de tomographie calculée, de panaches laser et de diodes émettrices de photons lui permet d'analyser précisément la surface de la plaquette à l'échelle d'un nanomètre. Il est équipé avec la capacité de détecter des caractéristiques qui sont dans la gamme de 100nm qui est bien au-delà des capacités d'autres systèmes d'inspection des semi-conducteurs. La machine est capable d'évaluer rapidement un large éventail de conditions de plaquettes différentes, telles que la qualité du dépôt, la rugosité de surface et la résistivité. Il possède des capacités complètes de classification des défauts pour permettre une évaluation avancée de l'intégrité des plaquettes. Il peut également effectuer des mesures automatisées des défauts tant positifs que négatifs, réduisant le besoin d'évaluations manuelles. En outre, le Surfscan 2.1 peut être intégré à d'autres systèmes, tels que les contrôleurs de production, les bras robotiques et les systèmes de vision, pour un contrôle complet de l'outil. Cela permet des tests entièrement automatisés et la détection des défauts sans aucune intervention manuelle. En outre, il dispose d'une interface utilisateur intuitive pour un fonctionnement facile et une analyse automatisée. Globalement, TENCOR Surfscan 2.1 est un outil de test et de métrologie avancé conçu pour inspecter avec précision les plaquettes semi-conductrices. Il est conçu avec une conception robuste et des algorithmes de métrologie avancés pour des résultats très précis. Avec ses capacités sophistiquées de détection des défauts et son intégration avec d'autres systèmes, il fournit une solution avancée pour le contrôle de la qualité dans la fabrication de semi-conducteurs.