Occasion KLA / TENCOR 2.1 Surfscan #9239243 à vendre en France

KLA 2.1 Surfscan est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie pour une surveillance supérieure et un diagnostic par lots des structures des dispositifs semi-conducteurs critiques. C'est l'une des solutions de métrologie à la plus haute résolution pour détecter et caractériser les défauts dans les plaquettes semi-conductrices. Le système est construit sur un moteur de technologie de surface propriétaire et utilise des algorithmes avancés pour la détection des défauts, ce qui donne des performances de haute précision. Il offre aux utilisateurs la capacité d'analyser avec précision une variété de mesures telles que les dimensions critiques, l'image, la rugosité de surface, les caractéristiques des dispositifs intégrés et la cartographie de surface localisée. Il prend en charge une grande variété d'applications pour la mesure d'appareils et de caractéristiques complexes, y compris l'inspection de surface 3D et la recherche de wafer pour le rendement de fabrication et la fiabilité. L'interface utilisateur intuitive de l'unité est facile à utiliser, permettant aux utilisateurs de concevoir, contrôler et exécuter rapidement des séquences de mesure. Il permet également aux utilisateurs de personnaliser les paramètres d'analyse pour optimiser les performances et la précision de leurs détecteurs. Surfscan prend en charge des technologies d'imagerie sélectionnables pour répondre à des besoins de processus spécifiques au site, notamment l'imagerie directe, l'infrarouge à transformée de Fourier (FTIR), l'imagerie aux rayons X et la microscopie à émission de bord (EEM). En outre, la machine offre l'imagerie avec une capacité UV profonde, permettant aux utilisateurs de détecter des défauts à l'échelle nanométrique qui sont autrement difficiles à mesurer avec les technologies optiques traditionnelles. Il intègre également des techniques avancées de mesure sans contact adaptées à la métrologie en ligne ou sur site, éliminant le besoin de mesures manuelles. L'outil prend en charge une gamme de formats de données standard de l'industrie pour une intégration transparente avec les systèmes de données existants. Il est livré avec un générateur de rapport intégré et une suite complète d'outils d'acquisition et d'analyse d'images pour des mesures détaillées et l'analyse de données. Globalement, TENCOR 2.1 Surfscan est l'atout idéal pour la mesure et la métrologie rapides, précises et fiables des plaquettes. Il fournit le plus haut niveau de précision, de vitesse et de flexibilité, ce qui en fait la solution parfaite pour les dispositifs semi-conducteurs et la caractérisation des processus et les diagnostics de défauts.