Occasion KLA / TENCOR 4000 SURFSCAN #9205755 à vendre en France

KLA/TENCOR 4000 SURFSCAN est un équipement avancé d'essai et de métrologie des plaquettes, conçu pour fournir des mesures topographiques précises des plaquettes utilisées dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système SURFSCAN utilise des étages à moteur de broche pour parfaitement aligner et déplacer la plaquette, tandis que des algorithmes de métrologie très avancés sont utilisés pour mesurer avec précision la topographie et la forme de la plaquette. L'unité d'optique avancée de SURFSCAN comprend un microscope inversé éclairé, 4 processeurs de signaux numériques, un éclairage LED, qui permet au microscope de détecter et de mesurer avec précision les défauts de surface. Une sphère de référence en acier inoxydable est utilisée pour assurer la précision et la cohérence des mesures. Le SURFSCAN dispose d'une caméra CCD haute vitesse avancée, ainsi que d'un illuminateur stroboscopique pour capturer des images détaillées de la surface de la plaquette, pendant le processus de mesure. Il a un taux d'analyse variable, qui peut être adapté à la taille de la plaquette et aux exigences spécifiques de l'application. Les données topographiques de Wafer sont stockées en mémoire et peuvent être envoyées ou partagées avec d'autres appareils. Les algorithmes de métrologie présentés dans le SURFSCAN permettent une analyse de surface complète dans une fraction du temps habituellement nécessaire pour des mesures manuelles. La machine peut fournir une analyse détaillée des paramètres standards tels que la rugosité carrée moyenne racine (RMS), la rugosité crête-vallée, et les largeurs de ligne. Le SURFSCAN est facile à utiliser et à entretenir. Il dispose de capacités d'interface utilisateur avancées, qui permettent une navigation facile et le contrôle de tous les paramètres, de la vitesse de balayage aux modes de mesure. Le fonctionnement entièrement automatisé nécessite une intervention minimale de l'opérateur, et des procédures d'étalonnage automatisées sont utilisées pour étalonner rapidement l'outil pour obtenir des résultats précis et reproductibles. KLA 4000 SURFSCAN est un outil de test et de métrologie de plaquettes très précis et avancé. Son modèle optique avancé et ses algorithmes de métrologie avancés permettent des mesures topographiques précises et fiables des plaquettes. Il est rapide, efficace et facile à utiliser et à entretenir, ce qui en fait le choix idéal pour évaluer la qualité des plaquettes utilisées dans l'industrie des semi-conducteurs.