Occasion KLA / TENCOR 4000 SURFSCAN #9388542 à vendre en France

ID: 9388542
Taille de la plaquette: 2"-6"
Wafer inspection system, 2"-6" Substrate thickness: Semi standard thickness High angle optics.
KLA/TENCOR 4000 SURFSCAN est un équipement de test et de métrologie de wafer de pointe conçu pour fournir une large gamme de capacités de numérisation et d'analyse de wafer automatisées et avancées. Le système combine une technologie de pointe et des caractéristiques innovantes pour fournir une caractérisation et une analyse des plaquettes haute vitesse et haute précision. Le SURFSCAN 4000 est conçu pour les environnements de test des plaquettes les plus exigeants et est également adapté aux mesures sur le terrain et en laboratoire. KLA 4000 SURFSCAN utilise des algorithmes d'imagerie dynamique et de diffusion laser pour mesurer un large éventail de caractéristiques physiques et chimiques sur une plaquette simple en quelques minutes. Cette technologie permet de saisir et de caractériser rapidement toutes les caractéristiques pertinentes du niveau de la filière, y compris les diélectriques encastrés, l'emplacement et la taille de la bille de soudure de la puce, les contacts ouverts/fermés, les bosses de filière relevées, la pâte de soudure, les notes et les défauts de bille et de gravure. La métrologie des wafers est encore améliorée par l'utilisation de capacités de focalisation automatique pour obtenir un examen précis de la topographie de surface de la wafer. L'unité SURFSCAN 4000 est équipée d'une inspection automatisée, de capacités complètes de métrologie embarquée et de puissantes fonctions d'analyse de données. Un sous-système optique avancé fournit une imagerie supérieure et une métrologie sans contact des plaquettes, élargissant les capacités de la machine pour mesurer les paramètres de surface tels que nœuds, protubérances, glissements, etc. Les fonctions d'inspection automatisée et de métrologie sont exploitées au moyen d'une interface utilisateur graphique (IAG) afin de permettre une mesure et une analyse rapides des examens des lots de plaquettes simples et multiples. L'analyse avancée des données offre une gamme complète de capacités de mesure, y compris, sans s'y limiter, le détecteur de chute, les détecteurs de coin, le champ de vision, la mesure du signal au bruit et le taux de gravure. L'outil intégré de test optique et de métrologie permet des mesures cohérentes et répétables et élimine les interprétations coûteuses des données. L'actif SURFSCAN 4000 est la solution leader dans le secteur des essais de plaquettes et de la métrologie. Grâce à sa technologie de pointe et à ses fonctionnalités innovantes, il offre une vitesse, une précision, une répétabilité, un rapport coût-efficacité et une flexibilité accrus pour répondre aux besoins les plus exigeants en matière d'essais de plaquettes et de métrologie. C'est la solution optimale pour les besoins courants et à haut volume d'essai de plaquettes, ainsi que pour les applications sur le terrain et en laboratoire.
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