Occasion KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #293598476 à vendre en France

KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN
ID: 293598476
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN est un système révolutionnaire de test et de métrologie des plaquettes, conçu pour aider à contrôler les performances et la qualité des puces semi-conductrices. Avec son capteur combo intégré, KLA 4500 SURFSCAN offre une plate-forme de capteur complète pour surveiller une gamme complète de microstructures à la surface d'une plaquette. Sa haute performance et son évolutivité le rendent idéal pour une myriade d'applications, allant de la recherche et du développement, au suivi des défauts, à la métrologie sur site. Au cœur de TENCOR 4500 SURFSCAN est son capteur combo qui se compose de quatre sondes différentes pour une variété de mesures qui comprennent le contour, la lumière réfléchie, et le contour/réflexion. Le contour prober fonctionne en comparant un profil 3D de la surface de la plaquette à son balayage précédent, permettant à la machine de détecter tout changement qui aurait pu se produire. Le diffuseur de lumière réfléchi capte ensuite la lumière réfléchie hors de la surface de la plaquette sous différents angles pour former une image qui peut être utilisée pour identifier des structures spécifiques. Le profilé contour/réflexion combine les deux processus pour donner une image encore plus détaillée de la surface de la plaquette. 4500 SURFSCAN est également équipé d'un puissant logiciel de traitement et d'analyse d'images. Il exploite des algorithmes avancés pour analyser les images et détecter les variations de surface qui peuvent indiquer des défauts. Le logiciel peut également être utilisé pour interpréter les données et générer des rapports en fonction des résultats des analyses. En outre, KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN peut s'intégrer à d'autres systèmes et processus, lui permettant de faire partie d'un flux de travail automatisé de fabrication de plaquettes. KLA 4500 SURFSCAN est un outil puissant pour inspecter et analyser les caractéristiques de surface des plaquettes semi-conductrices. Il fournit une image incroyablement détaillée de la surface de la plaquette et peut détecter même les plus petits défauts. Ses capacités sophistiquées de traitement et d'analyse d'images, ainsi que sa capacité à s'intégrer à d'autres systèmes et processus, en font un atout incroyablement puissant pour toute installation de fabrication de plaquettes.
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