Occasion KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #9252530 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
![KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN Photo Utilisé KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN À vendre](https://cdn.caeonline.com/images/kla-tencor_4500-surfscan_1125469.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
Vendu
ID: 9252530
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 1992
Wafer inspection system, 6"
Circuit board currently nonfunctional
Damaged parts
1992 vintage.
L'équipement KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN est un système d'essai et de métrologie des plaquettes utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour l'étalonnage et l'essai des plaquettes. L'unité fournit une précision et une précision inégalées pour la mesure et l'analyse de la technologie avancée des nœuds. Il dispose d'un balayage à grande vitesse pour les mesures en continu et utilise une technologie d'imagerie avancée pour identifier et caractériser avec précision les défauts. La machine peut détecter et mesurer avec précision les caractéristiques de topographie et de profil des plaquettes, y compris des topologies, des contours et des microstructures variables. L'outil est conçu pour des performances de haut débit. Il supporte l'analyse simultanée multi-plaquettes, avec des mesures topographiques acquises à 1-3 secondes par point, selon la taille de la plaquette. Les images haute résolution sont également acquises jusqu'à 100 μ m. La vision numérique embarquée aide à détecter les petites particules et autres défauts. L'actif offre aux utilisateurs des options de test complètes et prend en charge la validation de planarité des plaquettes, la mesure de l'épaisseur et le test de rugosité de surface. Sa grande dynamique permet des mesures sur une large gamme de tailles de plaquettes - de 200 mm à 300 mm. Le modèle a été spécialement conçu pour mesurer avec précision les structures à nœuds avancés, telles que les structures répétées sur des longueurs de sous-microns et les structures minces et multicouches. D'autres fonctionnalités incluent des outils logiciels robustes pour l'analyse d'image, permettant la détection et l'analyse facile des défauts critiques. Les algorithmes automatisés et les technologies de vision utilisées par l'équipement permettent d'améliorer la vitesse et la précision dans la localisation des défauts. Le système est équipé de capacités avancées pour la détermination et la classification de la contamination, les défauts, la reconnaissance des motifs, et d'autres défaillances matérielles. KLA 4500 SURFSCAN est un outil puissant pour l'industrie des semi-conducteurs. Il fournit une précision et une précision inégalées pour la mesure et l'analyse de la technologie avancée des nœuds, permettant un meilleur rendement et un meilleur contrôle des processus. Il offre une gamme d'options de test et dispose de grandes capacités dynamiques et de performances à haut débit pour une plus grande efficacité dans l'environnement de production.
Il n'y a pas encore de critiques