Occasion KLA / TENCOR 4500 #293626895 à vendre en France

KLA / TENCOR 4500
ID: 293626895
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 4500 est un système de test et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour l'analyse et l'optimisation de procédés avancés de fabrication de plaquettes semi-conductrices. Le système est doté d'un design modulaire hautement automatisé qui le rend idéal pour une production à haut volume dans des environnements tant de recherche qu'industriels. KLA 4500 se compose de trois composantes principales : une unité de cartographie des plaquettes, une unité de test des plaquettes et une unité d'analyse des données. L'unité de cartographie est chargée d'effectuer des mesures de surface précises de la plaquette afin d'identifier les domaines d'intérêt qui doivent être testés et analysés plus avant. Ceci se fait en scannant la plaquette avec une caméra d'imagerie haute résolution et haute vitesse. Les images scannées sont ensuite analysées par le logiciel intégré pour déterminer les coordonnées de zones d'intérêt spécifiques. L'unité d'essai de la plaquette est chargée d'effectuer une série d'essais et de mesures sur ces domaines d'intérêt. Ces essais comprennent des mesures des caractéristiques électriques, chimiques et structurelles afin d'évaluer correctement la qualité de la plaquette. Les données collectées à partir de ces tests sont stockées dans la base de données intégrée pour une analyse plus approfondie. Enfin, l'unité d'analyse des données est chargée d'interpréter les données recueillies lors des tests. En utilisant des algorithmes sophistiqués et des techniques d'analyse, les données sont utilisées pour créer des cartes de qualité détaillées de la plaquette, permettant une compréhension approfondie des défauts et des performances de la plaquette. De plus, l'unité d'analyse des données est capable de recommander des mesures correctives et préventives, ce qui en fait un outil précieux pour prévenir les défauts et assurer une production de haute qualité. TENCOR 4500 est un outil inestimable dans la recherche et la production industrielle de semi-conducteurs, permettant une analyse efficace et précise des processus de production des plaquettes. C'est un système polyvalent, fiable et convivial qui peut être rapidement configuré et configuré pour une variété d'analyses et de mesures.
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