Occasion KLA / TENCOR 5000 Surfscan #9284003 à vendre en France

KLA/TENCOR 5000 Surfscan est une plate-forme de test et de métrologie avancée conçue pour le traitement moderne des semi-conducteurs. Il est capable de mesurer à grande vitesse la topographie de surface. L'équipement offre une précision de mesure, un débit et une flexibilité supérieurs, permettant aux utilisateurs d'atteindre une productivité sans précédent dans les essais de plaquettes et la métrologie. Le Surfscan est construit sur une architecture modulaire avancée qui permet aux utilisateurs de personnaliser le système selon leurs besoins spécifiques. Il dispose d'un large éventail de fonctionnalités et d'options, y compris plusieurs étapes de mesure, une variété de détecteurs avancés, des lecteurs et des algorithmes de mesure. Ces caractéristiques permettent de tester différents types de substrats, y compris les plaquettes de silicium, le verre et la céramique. L'unité est équipée de capacités de mesure avancées telles que l'interférométrie, la microscopie confocale et la profilométrie de surface. L'interférométrie permet de mesurer avec précision la topographie de surface, tandis que la microscopie confocale est utilisée pour détecter des variations de hauteur subtiles telles que la hauteur du pas et la largeur de la zone en retrait. La profilométrie de surface est utilisée pour l'analyse de la planéité des plaquettes et fournit des résultats avec une haute résolution. La machine est également équipée d'un moteur pas à pas de haute précision, permettant un balayage rapide du substrat pour produire des images détaillées de la structure de surface. En outre, le Surfscan est capable de mesurer des défauts tels que les particules, la rugosité du bord des particules, les encombrements et les rainures des bords, et d'autres. Le logiciel avancé qui accompagne le Surfscan est conçu pour la visualisation et l'analyse des données complètes de la planéité et de la caractérisation des défauts des plaquettes. Il peut détecter et mesurer une grande variété de paramètres qui peuvent intéresser les utilisateurs, y compris l'archet des plaquettes, l'enregistrement de l'épaisseur, la cartographie des dimensions critiques (CD), le dénombrement des défauts, la taille des particules, la non-uniformité et bien plus encore. L'outil est construit sur une plate-forme très fiable et dispose d'une excellente convivialité. Il est équipé d'une interface utilisateur moderne qui permet aux utilisateurs d'accéder rapidement à toutes les fonctionnalités et fonctions de l'actif. De plus, le modèle est facile à configurer et à dépanner. KLA 5000 Surfscan est une plateforme de test et de métrologie de wafer leader dans l'industrie qui fournit des mesures de haute précision et un excellent débit. Il est personnalisable, riche en fonctionnalités et offre des performances supérieures en test de plaquettes et en métrologie.