Occasion KLA / TENCOR 5100 XP #293629138 à vendre en France

KLA/TENCOR 5100 XP est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu avec la technologie la plus moderne pour fournir une précision et une précision inégalées dans l'analyse et les essais au niveau des plaquettes. KLA 5100 XP dispose d'une plate-forme d'imagerie polyvalente et de haute précision, soutenue par des solutions logicielles intégrées pour rationaliser les charges de travail et accélérer les tests et les analyses. TENCOR 5100XP comprend un éclairage réticulé à haute résolution (PIT) qui permet la reconnaissance et la vérification précises des banques de fils imprimés et des dispositifs. La technique innovante d'éclairage Stacked Wells améliore encore la capacité d'analyse avec sa capacité à détecter même les variations microscopiques des rotations et les angles déviés des structures d'essai. De plus, un système avancé de balayage du réticule multicouche (MLR) permet de scanner de grandes surfaces avec plus de vitesse et de précision. 5100XP offre également un mécanisme de détection rapide à haute sensibilité, ce qui permet d'améliorer considérablement le débit d'essai. Cela permet aux utilisateurs d'acquérir rapidement des données circonscrites et d'effectuer rapidement l'analyse et l'identification des défauts. En outre, l'unité dispose de capacités de métrologie complètes, y compris Wafer Type Recognition (WTR), Particle Counting (PC) et Image Capture (IC). Des mesures supplémentaires telles que la courbure des plaquettes, le décollage et la mesure des dimensions critiques en 3 dimensions (CD) peuvent également être supportées avec l'ajout d'un module CD-SEM. KLA 5100XP peut traiter une variété de substrats, y compris des plaquettes de silicium, de verre et de plastique, ainsi que des substrats de la variante MEMS, pour garantir des résultats de métrologie optimaux. Avec sa grande capacité de débit, son interface intuitive et ses systèmes automatisés, KLA/TENCOR 5100XP exige une formation minimale de l'opérateur et offre des performances constantes et reproductibles dans les environnements de la ligne de production. En outre, il fournit des mises à niveau avancées de la machine, y compris un logiciel d'examen automatisé des défauts et un module d'analyse de grande surface supplémentaire. Ces caractéristiques supplémentaires améliorent l'efficacité et augmentent le débit avec un coût et un effort minimes. Dans l'ensemble, TENCOR 5100 XP est un outil de test et de métrologie avancé qui offre une plate-forme fiable pour des applications exigeantes. Ses fonctionnalités avancées permettent une analyse rapide et précise de plusieurs substrats, garantissant la précision et la répétabilité de pointe de l'industrie pour permettre une analyse efficace au niveau des plaquettes à toutes les étapes du processus de test.