Occasion KLA / TENCOR 5100 XP #293763497 à vendre en France

KLA/TENCOR 5100 XP est un équipement d'essai et de métrologie de wafer qui combine les technologies optiques, électriques et mécaniques avancées de KLA et TENCOR pour permettre l'inspection des défauts de haute résolution et des solutions de métrologie de pointe. Ce système permet des tests précis, reproductibles et fiables des plaquettes nues et à motifs avec des tailles extrêmement petites. KLA 5100 XP est conçu sur un concept modulaire, permettant des transitions rapides et fluides entre différents paramètres de test avec une grande précision. Avec son optique ultra-puissante, TENCOR 5100XP offre une résolution supérieure pour la détection et la caractérisation des défauts, ainsi qu'une métrologie 3D de haute précision pour les plaquettes les plus avancées. L'unité dispose également d'une capacité de vision avancée, y compris une unité d'imagerie embarquée qui capture des images haute résolution de toute la surface d'une plaquette en une seule opération entièrement automatisée, permettant aux utilisateurs de gagner du temps et de réduire les coûts. KLA/TENCOR 5100XP est également très fonctionnel et excelle dans le profilage prédictif. Ses algorithmes d'acquisition d'images à grande vitesse permettent d'effectuer des mesures automatisées d'inspection et de métrologie des plaquettes en une fraction du temps des systèmes précédents. La machine est capable d'analyser jusqu'à 100 000 images par heure, permettant une analyse prédictive en temps réel d'un processus où les opérateurs devaient auparavant s'appuyer sur des données post-traitées. KLA 5100XP offre également une variété d'options d'automatisation, y compris la reconnaissance de motifs, la reconnaissance d'images et les capacités de comparaison multi-sites pour une gestion optimale des plaquettes. Cela permet de s'assurer que tous les défauts sont immédiatement identifiés et rapidement récupérés, afin que la plaquette puisse être traitée correctement avant d'être envoyée pour acquisition. 5100XP a également été conçu pour être très convivial, offrant une interface graphique avec des contrôles intuitifs et des capacités de configuration automatisées. Il offre une navigation simple, permettant aux utilisateurs d'accéder rapidement aux fonctionnalités puissantes de l'outil et de commander et configurer intuitivement les paramètres de mesure, de sectionnement et de manipulation d'image des plaquettes. Dans l'ensemble, 5100 XP est un actif avancé de test de plaquettes et de métrologie qui offre des capacités supérieures de résolution, d'inspection et de métrologie, ainsi que des analyses prédictives, l'automatisation et des contrôles conviviaux. Il peut être utilisé sur des plaquettes nues et à motifs, ce qui en fait un atout précieux dans toute installation semi-conductrice avancée.