Occasion KLA / TENCOR 5100 #293767084 à vendre en France

KLA/TENCOR 5100 est un système d'essai et de métrologie de plaquettes utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour la métrologie et l'inspection des mesures critiques dans la technologie des semi-conducteurs. Le système est composé de trois modules - un module de contrôle des défauts, un module de mesure et un module de classification, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications. Le module de contrôle des défauts est un système très sensible qui peut détecter de petits défauts de 0,1 micron. Il utilise une variété de méthodes d'imagerie et de balayage telles que le balayage laser, l'imagerie numérique et la microscopie électronique pour identifier les défauts. Il intègre également des algorithmes avancés pour distinguer les vrais défauts et les inexactitudes de substrat. Le module de mesure de KLA 5100 est capable de mesurer une variété de paramètres liés au contrôle du processus des semi-conducteurs, tels que la dimension critique, sur/sous gravure, l'uniformité, la poussière, la contamination, etc. Il utilise un algorithme d'étalonnage breveté pour permettre des mesures précises et répétables. Le module de classification utilise la reconnaissance de motifs sophistiqués et l'analyse morphologique pour classer les défauts en divers types. Cela permet aux utilisateurs de repérer rapidement les défauts et les problèmes de dépannage. Dans l'ensemble, TENCOR 5100 est l'un des systèmes d'essai et de métrologie de plaquettes les plus complets disponibles. Il offre une solution complète pour la métrologie et l'inspection des semi-conducteurs, de la détection des défauts à la mesure en passant par l'analyse. Sa grande précision, sa vitesse et sa répétabilité en font un outil inestimable pour l'industrie des semi-conducteurs.