Occasion KLA / TENCOR 5107 #293628543 à vendre en France

KLA/TENCOR 5107 wafer testing and metrology equipment est un outil innovant qui combine la technologie de métrologie optique et de surface automatisée avec les tests de précision wafer. KLA 5107 utilise une caméra numérique de haute précision, un étage de précision et des algorithmes intégrés d'imagerie optique et de traitement pour permettre des capacités d'inspection et d'analyse de surface basées sur l'image. TENCOR 5107 dispose d'algorithmes avancés de traitement d'image qui permettent des niveaux de granularité de données sans précédent lors de l'analyse de la surface d'une plaquette. Le système est capable d'identifier les micro-défauts, la texture de surface et les mesures de forme, ainsi que les variations de processus des plaquettes ultra-sensibles. Ce niveau de précision permet au 5107 de cerner les problèmes de processus susceptibles d'affecter considérablement la qualité globale du produit fini. KLA/TENCOR 5107 offre également une résolution de métrologie rapide et répétable allant jusqu'à 0,1 micron, ainsi qu'un champ de vision allant jusqu'à ∼5mm x 5mm. Cela permet de tester et d'évaluer une large gamme de tailles et de géométries de plaquettes. En outre, KLA 5107 s'intègre à d'autres systèmes pour le contrôle intégré des processus et la synchronisation des données. Cette intégration permet à l'unité de surveiller et de mettre à jour les résultats en temps réel. TENCOR 5107 est conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires de R&D. De plus en plus, les deux industries exigent des mesures précises, répétables et cohérentes de la qualité des plaquettes, et 5107 fournit tout cela dans une machine unique et performante. La combinaison de vitesse, de précision et de fiabilité fait de KLA/TENCOR 5107 l'outil idéal pour la métrologie des plaquettes et les essais. Dans l'ensemble, KLA 5107 wafer testing and metrology asset offre une solution révolutionnaire pour les fabricants et les laboratoires de recherche qui souhaitent des mesures rapides et précises de la qualité des wafer. En adoptant une technologie de métrologie optique et de surface innovante qui offre une granularité de données améliorée, un champ de vision, une intégration de processus et une métrologie répétable, TENCOR 5107 a établi une nouvelle norme pour la métrologie automatisée des plaquettes et les essais.