Occasion KLA / TENCOR 5107 #9120918 à vendre en France

KLA/TENCOR 5107 wafer testing and metrology equipment est une technologie de pointe qui permet de mesurer, tester et caractériser avec précision les wafers semi-conducteurs. Le système utilise des optiques avancées et des microcapteurs pour détecter les défauts microscopiques sur la surface de la plaquette et mesurer ses caractéristiques physiques. L'unité fonctionne sous vide élevé pour éliminer les particules de poussière qui pourraient interférer avec les mesures. La machine KLA 5107 dispose d'un outil de manutention intégré qui permet à la plaquette de se déplacer en trois dimensions, permettant des mesures et des essais plus précis. Le bras de mesure intégré dispose d'un réseau de capteurs qui est capable de mesurer plusieurs tranches de la plaquette à la fois. L'actif utilise un logiciel d'analyse avancée qui analyse les données recueillies à partir des capteurs et génère une carte détaillée des plaquettes et un rapport de processus. Le modèle TENCOR 5107 offre de nombreux avantages par rapport aux autres systèmes de test et de métrologie des plaquettes. Il peut mesurer des défauts plus petits grâce à son optique avancée et à son équipement intégré de manutention des plaquettes. Il est également capable de mesurer les variations d'épaisseur d'une plaquette et de saisir les caractéristiques de tension superficielle et d'adhérence qui peuvent affecter les performances d'un dispositif semi-conducteur. Le système 5107 comprend une interface graphique conviviale, accessible à partir de PC et d'appareils mobiles, qui assure un contrôle total du processus de mesure et de test. L'unité peut également être facilement synchronisée avec les logiciels et bases de données existants, permettant une intégration transparente dans les pipelines de production existants. La machine KLA/TENCOR 5107 est spécialement conçue pour fonctionner dans un environnement de salle blanche et offre des performances supérieures dans ce cadre. L'outil est équipé d'un système de refroidissement à haut rendement, d'un modèle de purification et de chambres à vide qui améliorent les performances et réduisent les risques de contamination. L'équipement est également conçu pour réduire les coûts en réduisant le travail nécessaire pour mesurer et tester les plaquettes. Les systèmes automatisés tels que KLA 5107 sont capables de cycles d'essai plus rapides et sont plus précis que les processus manuels. Leur utilisation peut également réduire les coûts résultant d'erreurs et de défauts. Dans l'ensemble, TENCOR 5107 wafer testing and metrology system est un outil avancé et fiable pour mesurer et tester les wafers semi-conducteurs. L'unité offre d'innombrables avantages par rapport à d'autres systèmes de métrologie, tels que sa capacité à mesurer de petits défauts, son interface conviviale et ses processus automatiques, ce qui peut économiser des coûts et du temps.