Occasion KLA / TENCOR 5107XP #9101479 à vendre en France

KLA/TENCOR 5107XP est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures précises et complètes des paramètres critiques des dispositifs sur les plaquettes semi-conductrices. Il dispose d'un moteur de métrologie optique de haute précision, capable d'effectuer de multiples tâches de mesure telles que le profilage de surface, l'imagerie, le détail et la reconnaissance de motifs. Le système peut également générer une analyse significative pour identifier des régions ou des caractéristiques non uniformes à la surface de la plaquette. KLA 5107XP utilise la technologie KLA, qui permet des réflexions et réfractions précises de la lumière, ce qui donne une carte de surface riche en détails et en résolution. Cette combinaison de composants optiques et d'algorithmes informatiques permet à TENCOR 5107XP de détecter même les plus petites variations des caractéristiques de surface présentes sur la plaquette. De plus, les capacités sophistiquées d'électronique et de traitement de 5107XP s'étendent à l'intégration de commandes logicielles complexes. Celles-ci permettent de scanner, de cartographier et d'analyser en détail les données examinées, ce qui enrichit encore les niveaux de sortie de l'unité. Les routines puissantes ASIC et Real Time Image Analysis de la machine permettent à KLA/TENCOR 5107XP d'analyser, classer et extraire rapidement et avec précision les informations de mesure pertinentes des données de la plaquette. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir des résultats fiables en moins de temps, et conformément à des exigences de processus très serrées. De plus, la puissante suite logicielle KLA 5107XP permet aux utilisateurs de personnaliser à la fois les routines d'analyse et d'analyse des données, permettant aux utilisateurs d'adapter l'outil à leurs besoins spécifiques. En conclusion, TENCOR 5107XP est un outil de test de plaquettes et de métrologie. Grâce à son moteur de métrologie optique de haute précision, sa technologie et sa puissante suite logicielle, 5107XP fournit des mesures complètes et précises des paramètres critiques de l'appareil sur les plaquettes semi-conductrices.