Occasion KLA / TENCOR 5200 #293597899 à vendre en France

KLA/TENCOR 5200 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour être utilisé dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs. Il s'agit d'un système multidimensionnel capable d'effectuer une variété de tests non destructifs d'assurance de la qualité et de contrôle sur les plaquettes pendant le processus de fabrication. KLA 5200 utilise une combinaison de la technologie de mesure optique et interférométrique pour fournir des mesures très précises et répétables des dispositifs et matériaux semi-conducteurs. Il dispose d'une unité d'imagerie multidimensionnelle automatisée avec un grand champ de vision et un éclairage réglable pour assurer un alignement précis et une analyse précise des caractéristiques des plaquettes. De plus, la machine dispose d'une fonction d'alignement et d'étalonnage automatique pour réduire les erreurs de l'utilisateur et garantir des résultats fiables. TENCOR 5200 est capable de mesurer une variété de paramètres tels que la largeur critique de la tranchée, le diamètre critique et le rayon critique du coin. Il dispose également d'une bibliothèque intégrée de défauts de surface à détecter, ainsi que d'une fonctionnalité de reconnaissance de motifs pour les caractéristiques non standard. L'outil est équipé de capacités avancées de traitement des données, lui permettant d'analyser rapidement les données à partir de multiples points de vue et d'ajuster manuellement les paramètres pour optimiser les résultats. Les données peuvent être exportées sous plusieurs formats et transmises sur un réseau ou Internet en utilisant sa connexion Ethernet intégrée. 5200 est un actif de test et de métrologie de plaquettes très fiable et précis qui peut être utilisé dans une variété d'applications. Il offre aux utilisateurs la possibilité d'inspecter et d'analyser rapidement les plaquettes pour déceler les défauts, ainsi que de mesurer les paramètres critiques qui affectent les performances des appareils. Cela le rend idéal pour une utilisation dans une gamme d'environnements de fabrication de semi-conducteurs, où un diagnostic rapide et une analyse précise sont nécessaires.