Occasion KLA / TENCOR 5200 #9213909 à vendre en France

KLA/TENCOR 5200 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution complète pour le traitement, les défauts, l'analyse et la gestion des données. Le système est conçu pour maximiser les performances, la fiabilité et le débit tout en améliorant les rendements et la qualité des produits. L'unité intègre un module de détection TEMax-II (TEMax-II DM) à haut débit, à 512 canaux, pour permettre une détection rapide et précise des variations importantes du processus, des aberrations et des caractéristiques électriques à travers la plaquette. Cela est combiné à la surveillance avancée des processus grâce au module de contrôle des processus WaferflutTM, qui est capable de réguler la température et le débit des processus en boucle fermée. Avec Scan-MatchTM avancé conduit du logiciel la technologie de reconnaissance de trait, la machine découvre rapidement et quantifie des dessins à travers la gaufrette pour l'optimisation de processus et d'analyse de production rapide, exacte. De plus, KLA 5200 Wafer Testing and Metrology Tool est conçu pour fournir la meilleure précision et précision, offrant une précision jusqu'à 1nm pixel par pixel et une vitesse jusqu'à 5000tests/seconde. Il peut analyser jusqu'à six paramètres physico-électriques différents par motif par matrice, avec des résultats stockés dans une base de données pour une recherche facile. L'interface utilisateur intuitive et les fonctionnalités conviviales pour l'opérateur offrent des niveaux d'accès personnalisables, une gestion facile de la saisie des données et une interchangeabilité facile des données avec d'autres systèmes. TENCOR 5200 actif est livré avec une foule de puissantes capacités d'analyse et de traçabilité des défauts. Il fournit plusieurs algorithmes de détection de signaux et logiciels de reconnaissance de motifs pour identifier et isoler les défauts à travers la plaquette. Il permet également l'intégration avec des systèmes d'isolation des défauts tels que la reconnaissance automatisée des défauts (ADR), l'analyse des défaillances au niveau de la matrice (DLA) et les systèmes de mesure des essais en circuit intégré (TMMS), afin de permettre une caractérisation complète et précise des rendements et une analyse des défauts. En fin de compte, 5200 Wafer Testing and Metrology Model est une solution complète pour la surveillance et l'analyse des processus, avec une interface facile à utiliser, des capacités de détection et d'analyse avancées, et des capacités de haute précision et de haut débit pour l'analyse rapide et précise du rendement et le diagnostic des défauts. Cet équipement est devenu de plus en plus populaire dans l'industrie des semi-conducteurs, où la variation et la précision des processus sont d'une importance primordiale. Avec ses caractéristiques, il est idéal pour les opérations de production de volume moyen à élevé et pour la recherche et le développement.