Occasion KLA / TENCOR 5200XP #9157118 à vendre en France

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ID: 9157118
Overlay measurement system Does not include monitor Thermal printer damaged.
KLA/TENCOR 5200XP est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir précision et précision dans les processus de fabrication de semi-conducteurs. C'est un outil avancé d'inspection de plaquettes conçu pour détecter et mesurer les défauts sur une surface de plaquettes. Le système est équipé d'une caméra numérique haute résolution et d'une unité de vision automatisée à grande échelle (AVS) pour analyser les images des plaquettes d'essai et acquérir des données de métrologie détaillées avec une résolution nominale de 0,1 micron. KLA 5200XP utilise un certain nombre de techniques pour analyser les wafers, y compris l'imagerie de diffusion de la lumière (LSI), l'imagerie d'énergie réfléchie (REI) et l'imagerie de luminosité optique (OBI). Ces techniques permettent de détecter de petits défauts dans des zones de la plaquette difficilement accessibles même avec des microscopes à haute résolution. La machine supporte également l'imagerie par contact, technique utilisée pour mesurer une variation extrêmement faible de la hauteur des contacts sur la surface de la plaquette. TENCOR 5200 XP utilise également une gamme d'outils automatisés de test et d'analyse de plaquettes, tels que l'analyse de défauts et de tolérance et l'analyse de paramètres optiques. Ces outils permettent une évaluation complète des défauts de surface des plaquettes, en veillant à ce que les dangers potentiels pour le bon fonctionnement de l'appareil soient identifiés avant le processus de fabrication. Comme outil automatisé, TENCOR 5200XP peut réduire le travail humain nécessaire pour gérer le processus d'inspection et maintenir un haut niveau de précision. Il dispose d'une capacité de fabrication en boucle fermée, qui peut contrôler le fonctionnement d'autres systèmes dans l'installation. De plus, 5200XP peut être utilisé pour mesurer et stocker des données d'essai et de métrologie de wafer, permettant une évaluation plus précise des paramètres actuels du processus. En résumé, 5200 XP est un actif polyvalent d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir une analyse précise et haute résolution des surfaces de plaquettes. Il dispose d'une gamme d'outils automatisés de test et de métrologie pour détecter et mesurer les défauts, permettant un meilleur contrôle du processus de fabrication. Le modèle comprend également une technologie de vision avancée et des capacités de fabrication en boucle fermée pour réduire la main-d'œuvre et maximiser la précision.
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