Occasion KLA / TENCOR 5200XP #9279019 à vendre en France

KLA/TENCOR 5200XP Wafer Testing and Metrology Equipment est un système d'inspection de plaquettes haut de gamme spécialement conçu pour l'industrie de la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. KLA 5200XP propose une métrologie optique avancée, une détection précise des défauts et des mesures 2D et 3D précises. Cette unité est capable d'inspecter rapidement sur 24 topographies différentes d'imagerie pour détecter des nano défauts émergents. Son interféromètre laser de conception brevetée permet de maintenir un alignement et une précision de métrologie optique très précis, ce qui fournit une base fiable pour la détection précise des défauts, les mesures de profil 3D et l'imagerie. La machine d'essai et de métrologie TENCOR 5200 XP est équipée d'un environnement compatible salle blanche de classe 1000 et de la dernière tête de balayage 5 axes, qui est capable d'imagerie durable à haute vitesse dans toutes les caractéristiques avec un balayage de précision de 4 quadrants. 5200XP dispose d'un puissant microscope avec un champ de zoom allant jusqu'à 300 qui inspecte efficacement et focalise les fonctions jusqu'à moins de 10nm. Utilisant la technologie Computer Vision, KLA/TENCOR 5200 XP mesure avec précision chaque paramètre avec une précision maximale. Associé à un nouvel outil de reconnaissance de motifs, KLA 5200 XP peut rapidement détecter et mesurer tout type de défaut avec son algorithme statistique de défaut positif (SPD). L'actif comprend également une suite logicielle haut de gamme avec une interface utilisateur graphique intuitive (interface graphique). Avec la combinaison de paramètres statistiques réglables par l'utilisateur et de critères d'inspection flexibles, l'interface graphique peut être adaptée aux besoins spécifiques et Fournir aux utilisateurs la capacité de surveiller le contrôle en cours de processus du début à la fin. En outre, le 5200 XP hautement personnalisable comprend un suivi des défauts en temps réel, une fonction d'extraction de données unique et avancée et un module de reporting puissant. Les capacités d'analyse d'images et de données en temps réel de TENCOR 5200XP garantissent des mesures correctives rapides en cas de besoin. KLA/TENCOR 5200XP est un outil facile à utiliser mais puissant qui offre une flexibilité de modèle nécessaire aux techniciens de dispositifs semi-conducteurs. De la détection rapide et précise des défauts à l'imagerie topographique multiple, KLA 5200XP Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil essentiel pour fournir des résultats d'inspection fiables.