Occasion KLA / TENCOR 5500 Surfscan #9213367 à vendre en France

KLA/TENCOR 5500 Surfscan est un équipement avancé d'inspection et de métrologie des plaquettes conçu pour fournir des résultats d'essai fiables et précis sur les plaquettes semi-conductrices. Le système utilise des technologies optiques et interférométriques de pointe pour fournir des images à haute résolution des puces et des puces individuelles, ce qui permet de caractériser et de mesurer avec précision de multiples caractéristiques et défauts. KLA 5500 Surfscan est capable de scanner et de mesurer efficacement différents types de surfaces de plaquettes avec une précision allant jusqu'à 10 microns. Il peut détecter et cartographier les particules et les puits de gravure, ainsi que les variations de ton et d'épaisseur. Son scanhead 3D utilise une lumière haute fréquence afin qu'il puisse facilement identifier les particules sur une grande surface en peu de temps. De plus, la machine peut détecter, compter, mesurer, classer et surveiller les variations des paramètres électriques sur une surface de plaquette. L'outil TENCOR 5500 Surfscan intègre également un progiciel de pointe avec des fonctionnalités telles que l'inspection automatisée, la reconnaissance des motifs, le reformatage, la restauration, l'analyse et le reporting. Ce logiciel permet aux utilisateurs de visualiser les données et d'identifier facilement les défauts des plaquettes. L'actif fournit également des images personnalisables et des analyses statistiques pour l'amincissement, l'examen et l'alignement des plaquettes. En plus de son matériel et de ses logiciels avancés, le modèle 5500 Surfscan dispose de plusieurs fonctions de sécurité. Il s'agit notamment d'une sécurité à double verrouillage sur sa porte, d'un interrupteur d'arrêt d'urgence et de dispositifs de protection contre les chutes. En outre, la chambre de l'équipement est conçue pour être sans poussière, permettant la mesure et l'analyse sans poussière des plaquettes semi-conductrices. KLA/TENCOR 5500 Surfscan est un système avancé de test et de métrologie des plaquettes semi-conductrices. Ses capacités optiques et interférométriques avancées, ainsi que son progiciel automatisé, lui permettent de détecter, d'analyser et de mesurer avec précision les particules, les puits de gravure, les variations de tonalité et les paramètres électriques avec une grande précision. De plus, l'unité comprend plusieurs mesures de sécurité pour assurer un environnement d'essai sans poussière et sûr.