Occasion KLA / TENCOR 6100 #293745465 à vendre en France

KLA/TENCOR 6100 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie utilisé pour tester et inspecter des plaquettes à semi-conducteurs. Il évalue les caractéristiques des plaquettes comme la topographie, la composition et les défauts de surface. Il se compose de technologies avancées d'imagerie, de spectroscopie et de sondes pour fournir une analyse complète des caractéristiques de surface des plaquettes. KLA 6100 dispose d'un imageur haute résolution de 5,5 μ m pixels qui peut atteindre une résolution d'image allant jusqu'à 0,5 μ m. Il utilise un spectromètre à échelle fractionnée programmable avec optique diffractive pour fournir des capacités supérieures de métrologie de surface. Il dispose de capacités avancées de sondes de plaquettes avec une résolution nanométrique et une vitesse élevée, ce qui le rend approprié pour les essais en cours de semiconducteur. Le système dispose d'un logiciel d'automatisation intelligent qui permet l'automatisation efficace des processus de test et fournit des capacités d'analyse de données et de rapport. Il utilise des algorithmes de reconnaissance de motifs pour trouver des défauts et analyser des motifs. Il dispose également d'une interface graphique conviviale pour la visualisation des résultats des tests. TENCOR 6100 a une large gamme d'applications dans les industries des semi-conducteurs. Il peut être utilisé pour mesurer la topographie de surface, analyser la composition de la surface des semi-conducteurs, détecter les contaminants ou défauts de surface et évaluer l'épaisseur ou la qualité de surface. Il est également capable de mesurer un large éventail de propriétés, y compris la répétabilité d'une pièce à l'autre, d'une plaquette à l'autre et d'une matrice à l'autre. En raison de sa flexibilité, 6100 est juste à la maison dans le développement de processus et les environnements de fabrication à haut volume. Il peut être utilisé pour les mesures en ligne sur les systèmes de production ou pour la validation des changements de processus dans les laboratoires de métrologie. L'unité dispose également d'une machine intégrée d'étalonnage et de caractérisation, ainsi que d'outils de gestion de la qualité, pour assurer des résultats cohérents et précis. Globalement, KLA/TENCOR 6100 est un outil essentiel pour mesurer et contrôler les caractéristiques des plaquettes semi-conductrices. C'est un outil de métrologie avancé qui offre une résolution, une précision et une fiabilité supérieures tout en minimisant les temps d'arrêt et les coûts de production.