Occasion KLA / TENCOR 6200 Surfscan #293807558 à vendre en France
URL copiée avec succès !
KLA/TENCOR SFS 6200 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie. Développé par KLA, le système utilise des capteurs in-die avancés et la spectroscopie, pour fournir une analyse de précision des plaquettes semi-conductrices. L'unité est particulièrement utile pour les fabricants de semi-conducteurs, fournissant des tests et une métrologie rapides, précis et rentables des plaquettes. La KLA SFS 6200 dispose de capteurs à double filière (capteur de position et capteur de focalisation) qui utilisent le réseau de diodes linéaires et l'interférométrie laser pour mesurer avec précision la position, le pas et la profondeur des surfaces des plaquettes. En outre, il comprend un spectromètre pour l'imagerie optique précise et l'imagerie éclairée pour la mesure des défauts et de la rugosité de surface. Avec sa machine optique avancée, TENCOR SFS6200 offre une résolution supérieure et des performances fiables pour tester des échantillons de toutes tailles. L'outil utilise un logiciel Vision 4.2 qui comprend une interface utilisateur intuitive, un examen des défauts, un examen hors ligne, une automatisation programmable et d'autres capacités de haut niveau. Le logiciel permet à l'utilisateur de personnaliser les processus automatisés, d'automatiser plusieurs mesures paramétriques et d'analyser les données à l'aide de méthodes statistiques. Il fournit également un outil de croquis de plaquettes qui peut être utilisé pour identifier rapidement les caractéristiques d'intérêt sur une plaquette et les rendre comme une image bidimensionnelle sur le moniteur. TENCOR SFS 6200 offre une excellente flexibilité et est idéal pour les essais de plaquettes de base et avancés et la métrologie. Il offre une précision et une répétabilité inégalées, et produit des résultats complets et cohérents qui répondent aux exigences strictes de l'industrie des semi-conducteurs. En outre, l'actif est conçu pour optimiser le débit, permettant des cycles de mesure plus rapides et un débit d'échantillon plus élevé. En résumé, KLA/TENCOR SFS6200 est un modèle de test et de métrologie de plaquettes puissant et fiable. Avec son optique avancée, son logiciel convivial, sa flexibilité et sa précision, SFS6200 est la solution idéale pour tout fabricant de semi-conducteurs à la recherche de tests et de métrologie de plaquettes précis et fiables.
Il n'y a pas encore de critiques