Occasion KLA / TENCOR 6220 Surfscan #9070113 à vendre en France

KLA/TENCOR 6220 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe capable d'inspecter et de mesurer une variété de wafers semi-conducteurs et de mourir régulièrement et rapidement. Ses composants comprennent une source lumineuse, deux caméras, un système informatique et une tête à pression variable. L'unité est conçue pour identifier les particules contaminantes de taille nanométrique et les défauts avec une précision stupéfiante, donnant un aperçu de l'uniformité et de la qualité de la plaquette. KLA 6220 Surfscan utilise une source lumineuse haute puissance pour éclairer la plaquette et affiche une image bidimensionnelle de la surface pour inspection. La machine utilise ensuite deux caméras haute résolution et une optique sophistiquée pour scanner la plaquette. Cela permet à l'outil informatique d'analyser et de créer une carte de la plaquette, mettant en évidence sa topographie. L'actif permet à un utilisateur de choisir des zones d'intérêt pour le profilage et la mesure de surface ; les données relatives à ces zones peuvent être consultées en temps réel sur l'écran de l'ordinateur. Le modèle comporte également une tête de pression variable, utilisée pour assurer un contact uniforme entre la surface de l'échantillon et l'optique avant l'imagerie. Cela permet à TENCOR 6220 Surfscan de détecter des caractéristiques topographiques en évolution rapide tout en compensant et en prenant en compte les différences dans l'échantillon, l'éclairage et la réponse du détecteur. 6220 Surfscan est capable de mesurer plusieurs paramètres critiques, tels que la rugosité moyenne, la surface et la pente. L'équipement est également capable d'effectuer de multiples inspections en une seule séance, ce qui réduit considérablement le temps consacré au processus d'inspection. Son interface utilisateur est conçue pour la facilité d'utilisation, permettant aux utilisateurs de trouver et d'identifier les défauts rapidement et facilement. En conclusion, KLA/TENCOR 6220 Surfscan est un système complet de test et de métrologie des plaquettes capable de fournir un aperçu complet des caractéristiques de la plaquette, y compris sa topographie, ses divers paramètres et son uniformité. Sa conception robuste et ses caractéristiques avancées en font un outil précieux et efficace pour l'inspection et la mesure des plaquettes semi-conductrices.