Occasion KLA / TENCOR 6220 Surfscan #9222541 à vendre en France

KLA/TENCOR 6220 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie utilisé dans la production de dispositifs semi-conducteurs. Il est utilisé pour mesurer les propriétés électriques et physiques de la plaquette semi-conductrice, telles que la topographie de surface, la planéité de surface, l'alignement des photomasques et des plaquettes, la précision de recouvrement, la taille des défauts, la contamination et plus encore. Le système comprend : un module d'optique ; un module de traitement et d'analyse des images ; une étape de balayage ; et une interface utilisateur basée sur le Web. Le module d'optique Surfscan 6220 utilise une caméra CCD pour mesurer le profil de surface et les coefficients de la plaquette. L'unité fournit une routine d'étalonnage automatisée pour fournir des résultats exacts, et une fonction auto-focus intégrée maintient la surface au point pour des lectures précises. Le module de traitement d'image utilise des algorithmes avancés de traitement d'image pour détecter, classer et mesurer les défauts de surface à travers une plaquette. Les algorithmes automatisés de détection de défauts peuvent détecter des caractéristiques aussi petites que quelques nanomètres, et peuvent détecter des particules, des rayures, et plus encore. L'étape de balayage Surfscan 6220 permet un balayage très précis de la plaquette. Il dispose d'une plate-forme 300mm x 300mm avec un axe Z motorisé, permettant une manipulation de surface optimale. Le scanner aligne avec précision la plaquette avec la caméra CCD, garantissant des résultats cohérents et précis. L'interface Web offre aux utilisateurs un moyen accessible et intuitif d'interagir avec l'outil. Les utilisateurs peuvent créer et stocker des profils de numérisation pour accéder facilement au besoin, ainsi que réaliser des tâches telles que l'étalonnage, exécuter la session de numérisation, et accéder à l'information de journal et de paramètres. KLA Surfscan 6220 wafer testing and metrology asset offre un moyen fiable et économique de mesurer et d'inspecter les wafers semi-conducteurs. Il est très précis, facile à utiliser et offre un large éventail de fonctionnalités pour offrir des performances optimales.