Occasion KLA / TENCOR 6300 #9394711 à vendre en France

KLA/TENCOR 6300 Wafer Testing and Metrology Equipment est utilisé pour mesurer diverses propriétés physiques des wafers pour les fabricants de semi-conducteurs. C'est un outil de haute précision qui offre une variété de capacités de test et de mesure de plaquettes. Le système KLA 6300 utilise deux sous-systèmes intégrés. La première est une capacité d'imagerie sous forme de matrice, qui permet aux utilisateurs de mesurer la topographie 2D et 3D d'une plaquette, et la seconde est un ellipsomètre spectroscopique à haute résolution, qui peut mesurer une variété de propriétés physiques, y compris l'absorption optique, l'indice de réfraction et la rugosité de surface. Les fonctions d'imagerie de l'unité TENCOR 6300 sont utilisées pour capturer des images 2D ou des informations vidéo dans un niveau de résolution spatiale nanométrique. Cela permet de saisir et d'analyser un niveau élevé de détail qui peut normalement ne pas être visible à l'œil nu. La machine a également la capacité de capturer des images 3D de plaquettes, qui permettent des mesures précises de l'épaisseur, des hauteurs de pas, et d'autres caractéristiques critiques de la couche. Les capacités de l'ellipsomètre spectroscopique de l'outil 6300 comprennent la capacité de mesurer des propriétés optiques telles que la réflectivité et l'absorbance d'une plaquette dans une gamme de fréquences allant de 250 à 2 500 nm. Cela aide à déterminer l'épaisseur d'une plaquette, l'indice de réfraction et l'épaisseur du film. KLA/TENCOR 6300 propose également une gamme de techniques de mesure, y compris des mesures à angle fixe ou variable, des manipulations de polarisation et des mesures à grande vitesse, qui fournissent des résultats précis et reproductibles. En plus de ces fonctionnalités, KLA 6300 dispose également de puissantes capacités de gestion de données, qui permettent aux utilisateurs d'accéder et d'analyser des données de différents systèmes, de stocker des informations de manière définie par l'utilisateur et de créer facilement des rapports personnalisés. Cela aide à rationaliser le processus de test des plaquettes et à améliorer l'efficacité globale. TENCOR 6300 est un excellent outil de contrôle de la qualité dans la fabrication de semi-conducteurs et convient à la fois pour la recherche et les applications de contrôle de processus en ligne. La fiabilité, la précision et les capacités de gestion des données de 6300 en font un instrument idéal pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie.