Occasion KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293766824 à vendre en France

KLA/TENCOR 6420 wafer testing and metrology equipment est un outil d'inspection micro-ligne de production de premier plan qui aide à s'assurer que les dispositifs semi-conducteurs répondent aux spécifications requises. Il offre des mesures et des inspections en ligne très précises et automatisées, une reconnaissance rapide des motifs, une métrologie électrique pour le criblage des paramètres, ainsi qu'une isolation et une classification des défauts pour l'analyse des processus. Le système KLA 6420 d'essais de plaquettes et de métrologie a révolutionné la façon dont les fabricants de semi-conducteurs testent et contrôlent les processus de fabrication. L'unité combine des fonctions d'inspection et de métrologie, produisant des images de chaque dispositif au point d'inspection ou de métrologie pour rétroaction. Il prend en charge un large éventail de technologies de processus, y compris les photomasques, les mesures de couches minces, les inspections couche à couche, les classifications des défauts, la surveillance des processus de gravure, la superposition, l'analyse des défauts de mémoire et bien plus encore. Le sous-système d'automatisation assure un alignement et une identification corrects de chaque lot tandis que la machine fournit également un test intégré de niveau de plaquette qui automatise l'ensemble du processus d'inspection. TENCOR 6420 aide à augmenter les rendements de production et à réduire les coûts de fabrication globaux en détectant les défauts subtils qui auraient pu passer inaperçus auparavant, ce qui a entraîné des produits de meilleure qualité et une plus grande satisfaction des clients. Ses mesures de précision et sa grande précision augmentent les performances des appareils et les rendements, ce qui améliore les performances économiques. L'outil dispose d'une interface conviviale, permettant aux fabricants d'appareils de configurer et de personnaliser rapidement les tests et les paramètres de l'instrument, éliminant ainsi les temps de réglage et de calibration fastidieux. Sa capacité de mesure à grande vitesse fournit une analyse détaillée pour identifier les mécanismes de défaut fondamentaux, et elle peut fournir des informations complètes sur le contrôle des processus de gravure, l'inspection couche à couche, les mesures complexes des couches minces, l'analyse des défauts de pile de couche et la métrologie avancée. La technologie avancée d'analyse d'image présente sur 6420 aide à réduire les faux appels en reconnaissant les caractéristiques de toutes les tailles, même celles qui peuvent être de dix pour cent de la taille attendue. La cohérence des bords de ligne est également réalisée grâce à l'algorithme polyvalent et multi-niveaux de l'actif. Tout cela contribue à un modèle très fiable qui augmente la productivité, réduit les coûts et entraîne une amélioration globale de la production.