Occasion KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293767198 à vendre en France

KLA/TENCOR 6420 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe développé par KLA Corporation. Il est conçu pour fournir des solutions précises et fiables de métrologie et de test de niveau de plaquettes pour les fabricants des industries semi-conductrices et photovoltaïques. Le système KLA 6420 se compose d'une unité d'imagerie numérique haute résolution à haut débit, d'un chargement automatisé d'échantillons et d'une suite de logiciels de métrologie développés sur mesure qui permettent une analyse haute vitesse et haute fidélité des plaquettes. La machine combine un débit élevé, une grande précision et des capacités élevées d'acquisition et d'analyse de données pour identifier rapidement les défauts topologiques, détecter et cartographier les contaminants et les particules, et pour créer des vues transversales des caractéristiques et des défauts des plaquettes. L'outil TENCOR 6420 utilise un outil d'imagerie sophistiqué pour collecter des données de 64 wafers à la fois, puis traiter les données avec son logiciel de métrologie spécialisé. Ce logiciel peut effectuer une analyse sophistiquée des données et générer des images 3D détaillées de la plaquette pour l'inspection et l'évaluation. En outre, le modèle comprend de puissantes capacités multitâches qui peuvent effectuer une variété d'opérations en parallèle. 6420 équipements comprennent également une gamme complète d'applications logicielles conçues pour maximiser la productivité dans l'environnement de production. Cette interface logicielle a été conçue pour être conviviale, permettant aux opérateurs de s'adapter rapidement au système et d'augmenter leur productivité tout en fournissant des fonctionnalités adaptées aux besoins spécifiques de l'utilisateur. Au cœur de l'unité KLA/TENCOR 6420 se trouve le logiciel TENCOR E-Metrology Machine, une combinaison puissante d'algorithmes, de stockage de données et de capacités d'analyse qui s'intègrent parfaitement à l'ensemble des équipements de métrologie et d'analyse KLA/TENCOR. Ce puissant logiciel de combinaison permet des niveaux de précision et de répétabilité sans précédent lors de l'inspection et de l'analyse de la topologie des wafers, de l'analyse des particules et des contaminants, de la détermination des gradients subtils et de la mesure et de la cartographie précises des caractéristiques de la wafer. KLA 6420 est l'un des systèmes d'essai et de métrologie de plaquettes les plus avancés disponibles et combine les technologies les plus récentes avec le plus haut niveau de précision et de précision. Il est conçu pour fournir les bases d'un processus complet, précis et reproductible de fabrication de dispositifs semi-conducteurs. C'est un outil très fiable et productif, idéal pour un large éventail de fabricants d'appareils qui nécessitent le plus haut niveau de performance et d'analyse.