Occasion KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293767201 à vendre en France

KLA/TENCOR 6420 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour fournir une mesure rapide et précise des caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs. Ce système combine optique avancée, imagerie numérique, et technologie d'écran tactile pour fournir aux utilisateurs une plate-forme complète pour les tests et l'analyse des plaquettes. Les optiques robustes de KLA 6420 permettent la capture d'images haute résolution des caractéristiques de surface des plaquettes, ainsi que la mesure et l'analyse des défaillances. Une plaquette peut être mesurée à des tolérances de +/-2um (micromètres) ou mieux, fournissant aux opérateurs des données supérieures pour déterminer les performances du dispositif. L'interface utilisateur de TENCOR 6420 est basée sur un écran tactile de 19 "qui offre une unité intuitive à menus pour le fonctionnement de la machine. En plus des contrôles standard, l'outil dispose également de menus personnalisables pour les utilisateurs et d'une fonction de comparaison d'images glisser-déposer. Grâce à sa puissante imagerie embarquée, 6420 permet aux utilisateurs de détecter les défauts du sous-micromètre sur la surface de la plaquette et de faciliter les réparations en conséquence. L'unité comprend à la fois un zoom haute puissance et une haute résolution capable d'imager des plaquettes avec des résolutions linéaires de 2um/pixel ou moins. Pour une analyse avancée des caractéristiques spécifiques des appareils, KLA/TENCOR 6420 intègre également une fonction de comparaison d'images automatisée. Cette caractéristique critique permet de comparer directement des images pour des changements subtils ou la mesure de dimensions critiques, donnant aux opérateurs un degré de précision plus élevé. Cette fonction de comparaison d'images permet également aux utilisateurs d'examiner facilement l'avancement de la fabrication d'un appareil au cours de la durée de vie d'un cycle de production et d'identifier tout changement significatif qui pourrait affecter les performances. Pour les essais de wafer et les opérations de métrologie, KLA 6420 comprend un ensemble intégré d'analyse des particules, qui permet aux opérateurs de détecter et de quantifier les contaminants sur les wafers avec une précision discrète. Cette puissante fonctionnalité fournit des données détaillées et précises sur les particules, qui peuvent être utilisées pour vérifier la propreté du processus, contrôler le rendement de fablot et surveiller la qualité du produit. En outre, TENCOR 6420 est livré avec une large gamme d'options et d'accessoires, y compris un étage de plaquette automatisé et des systèmes de vision automatisés. L'étage de plaquette permet le chargement, le positionnement et l'orientation automatiques de la plaquette, tandis que l'actif de vision peut être utilisé pour inspecter les caractéristiques de surface d'une plaquette en temps réel. 6420 offre une plate-forme complète pour les essais avancés de plaquettes et la métrologie, offrant aux utilisateurs des capacités d'analyse d'image et de mesure de particules de pointe. Avec son interface utilisateur intuitive, son imagerie haute résolution et ses outils de métrologie novateurs, KLA/TENCOR 6420 fournit aux utilisateurs un outil puissant pour des tests et des mesures de plaquettes avancées.