Occasion KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293777614 à vendre en France

KLA/TENCOR 6420 Surfscan est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie pour le processus de plaquettes à haut volume et la fiabilité de rendement. Le système fournit à la fois haute vitesse, mesure puissante et automatise l'ensemble du processus de test des puces à la plaquette à l'analyse statistique. KLA 6420 Surfscan est le dernier en date de la série KLA/TENCOR de systèmes de test de plaquettes, qui est capable de fournir des mesures d'inspection non destructives précises à une variété de types de plaquettes. TENCOR 6420 Surfscan utilise la technologie des réseaux linéaires pour détecter les défauts de processus, tels que les particules et les défauts liés aux particules sur la surface de la plaquette. Il est équipé d'une caméra arrière intégrée pour détecter les particules sur la surface arrière de la plaquette. Pour détecter avec précision les défauts, le 6420 utilise la technologie de métrologie optique de surface brevetée TENCOR, qui utilise son algorithme de mesure de la TMTM pour optimiser le contraste entre les particules et leur environnement. En outre, 6420 Surfscan offre une large gamme de capacités, y compris le contrôle de la vitesse d'échantillonnage, le contrôle de la qualité de l'image et le vertexing des particules. KLA/TENCOR 6420 Surfscan est conçu pour répondre aux besoins de volume élevé qui se posent dans le traitement des plaquettes semi-conductrices. Il est rapide, précis et adapté à une variété de types de plaquettes, ainsi que d'avoir une fonction de profilage pour capturer des informations dimensionnelles détaillées à partir de caractéristiques tridimensionnelles. Cette caractéristique est utilisée pour mesurer des caractéristiques de forme telles que la hauteur et la courbure. Pour s'assurer que les données sont exactes, KLA 6420 Surfscan utilise également son propre processus d'analyse statistique pour analyser un profil, ce qui lui permet de déterminer ce qui est normal ou non uniforme dans la surface de la plaquette. L'unité de sonde TENCOR 6420 Surfscan minimise le risque d'endommagement des plaquettes lors de l'inspection. La plaquette est scannée plusieurs fois pour assurer des mesures précises sur l'ensemble de la plaquette. En outre, la machine offre une variété de fonctions de révision et de classification des défauts, ce qui permet d'identifier et de classer rapidement les défauts dans le domaine. Cela aide à identifier rapidement les problèmes de processus et accélère la prise de décisions. 6420 Surfscan est incontournable dans les laboratoires de fabrication de semi-conducteurs en raison de sa robuste précision et fiabilité. Avec ses mesures rapides, son examen rapide des défauts et ses processus de classification, KLA/TENCOR 6420 Surfscan offre l'un des tests de wafer les plus fiables et la métrologie pour les tests de wafer de production.