Occasion KLA / TENCOR 6420 #293605952 à vendre en France

KLA/TENCOR 6420 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de métrologie entièrement automatisé conçu pour inspecter et mesurer les métriques clés des dispositifs semi-conducteurs au niveau des wafers. L'unité KLA 6420 est équipée pour fournir des capacités complètes de détection des défauts et de surveillance des processus afin d'assurer la meilleure qualité possible de divers nœuds de processus avancés et de technologies de pointe. La machine TENCOR 6420 est capable d'un large éventail de tâches d'inspection et de mesure, allant de l'inspection des défauts de ligne de production à la cartographie complexe des plaquettes, la détection des particules et la réparation automatisée des défauts. Des fonctionnalités telles que la cartographie 3D, la manipulation automatique des échantillons personnalisée, la détection des arêtes et des défauts au laser, ainsi que le traitement d'image haute définition et la technologie CCD, ne sont que quelques-unes des capacités de mesure intégrées de la plateforme 6420. L'outil KLA/TENCOR 6420 a la capacité d'analyser complètement une surface de plaquette avec ses nombreuses capacités de mesure et ses algorithmes de précision. En outre, KLA 6420 actif est équipé de réflectométrie laser, qui est activé par l'optique optimisée, l'éclairage, et le matériel d'acquisition. Cela permet une cartographie précise des plaquettes qui répond aux exigences de processus les plus exigeantes. Le modèle TENCOR 6420 est également capable d'automatiser la détection et l'élimination des particules. Ses outils de détection de particules de plaquettes haute définition permettent d'isoler les plaquettes des interférences potentielles causées par les particules ou la contamination tout en permettant d'identifier et d'isoler les particules susceptibles d'interférer avec le fonctionnement du circuit. Cette caractéristique est utile pour garantir la qualité de la conception globale du circuit. De plus, 6420 Equipment offre une large gamme de capacités d'acquisition et d'analyse de données conçues pour fournir des données plus précises pour une caractérisation plus fiable des wafers et un contrôle des processus. Le système KLA/TENCOR 6420 est optimisé pour un débit élevé, permettant un retournement rapide et efficace pour les essais de production. En outre, KLA 6420 plate-forme est compatible avec une gamme de systèmes de métrologie pour étendre les capacités, assurant une plus grande précision et des performances. En conclusion, TENCOR 6420 Wafer Testing and Metrology Unit est une plate-forme révolutionnaire capable de répondre aux exigences de production de semi-conducteurs les plus exigeantes. Son ensemble de fonctionnalités intégré fournit une analyse précise de la surface de la plaquette et de ses caractéristiques, permettant une cartographie précise de la plaquette et la détection et l'élimination automatisées des particules. Cela fait de la machine 6420 la plate-forme idéale pour une large gamme de nœuds de processus et de technologies de pointe.