Occasion KLA / TENCOR 7000 Surfscan #9037841 à vendre en France

ID: 9037841
Style Vintage: 1991
Patterned wafer contamination analyzer. Wafer surface scanner particle inspection (3) Time count meters: 57132.86, 604, 25761 (1) HP Hewitt Packard PaintJet (Model: 3630A) (1) Cyonics laser power supply (1) Qualidyne power supply (Model: QML) Push latch unlocking mechanism along bottom door 1991 vintage..
KLA/TENCOR 7000 Surfscan est un équipement de test de plaquettes et de métrologie qui offre des capacités d'automatisation et de métrologie avancées. Il a été conçu pour fournir des résultats répétables et un débit accru pour les dispositifs semi-conducteurs. Le système est utilisé pour mesurer des paramètres critiques tels que la largeur de ligne, la superposition, CD, etc. des plaquettes de circuit intégré (IC) avec une grande précision et précision. C'est une unité entièrement automatisée avec une conception modulaire pour un fonctionnement efficace et une mise à niveau facile. Il se compose d'un capteur CCD pour les plaquettes d'imagerie, du cadre principal pour la métrologie et d'une machine de transfert robotique pour l'alignement précis des plaquettes. Le capteur CCD comprend les dernières technologies pour le profilage 3D jusqu'à 8µm. Il est également équipé d'un outil d'éclairage de l'iris qui assure l'éclairage correct des mesures. KLA 7000 Surfscan fournit une grande variété de mesures de plaquettes dans des structures à puce unique, multi-filières et bosses, jusqu'aux couches 40. Il combine la métrologie 3D nanosurf et un cluster de clés de test IBIS en un seul atout configurable. Cela permet de contrôler les processus et de trouver des défauts dans les lignes de fabrication à haut volume. Son étalonnage rapide et fiable rend le modèle idéal pour les lignes de production où la flexibilité et le haut débit sont requis. TENCOR 7000 Surfscan est également très extensible, et dispose de multiples modes de test pour couvrir les technologies traditionnelles et émergentes. Il peut être équipé de différentes options comme le test in-situ OTP ou Overdrive pour mesurer le rendement électrique à différents niveaux de lot. Il supporte également les optiques de superposition et d'inspection multiples comme les optiques semi-réfléchissantes ou concaves. Au total, 7000 Surfscan est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie pour des applications de production de semi-conducteurs. Il offre une grande précision et répétabilité, haut débit, flexibilité et évolutivité. Sa conception modulaire le rend facile à intégrer aux équipements existants et ses capacités de métrologie avancées aident à maintenir les lignes de production à jour et fiables.
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