Occasion KLA / TENCOR 7200 Surfscan #293664994 à vendre en France

KLA/TENCOR 7200 Surfscan est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs. Il est capable de tester une large gamme de formats de plaquettes allant des plaquettes standard de 2-8 pouces aux plaquettes grandes et ultra fines. Ce système offre une gamme complète d'outils avancés de test et de métrologie des plaquettes, y compris les mesures de dimension critique (CD), les mesures de profil optique (OP), les mesures de largeur laser (LW), l'unité de réduction du bruit (NRS) et la localisation des défauts en temps réel (RTDL). KLA 7200 Surfscan permet de tester et d'analyser les plaquettes en haut et en bas. Il utilise sa machine à balayage laser automatique (ASLS) brevetée pour mesurer et analyser simultanément les motifs sur l'ensemble d'une plaquette. La combinaison d'outils avancés et de fonctionnalités logicielles intuitives permet à TENCOR 7200 Surfscan d'effectuer rapidement des tests et analyses complets, économisant du temps et de l'argent précieux. 7200 Surfscan offre un outil de mesure CD/OP polyvalent avec un actif de microscopie à large champ capable d'effectuer une vérification latérale rapide des motifs, des mesures CD et des mesures de profils optiques. Le modèle offre également un module de mesure de largeur laser qui peut mesurer un ensemble de largeurs de lignes/espaces sur une plaquette en utilisant une mesure sans contact. La fonction NRS (Noise Reduction Equipment) de KLA/TENCOR 7200 Surfscan permet de corriger automatiquement les mesures pour tenir compte de facteurs externes tels que le bruit de fond, les effets de frange et les interférences. La fonction de localisation des défauts en temps réel offre une analyse précise de la localisation des défauts en coordonnées cartésienne et polaire. KLA 7200 Surfscan propose également une variété d'autres outils, y compris l'analyse des défauts optiques, les investigations spécialisées et le contrôle statistique des processus. La fonction d'investigation spécialisée permet une analyse plus approfondie des structures de défauts ou de motifs qui ne sont pas facilement mises au jour avec des mesures optiques. La fonction de contrôle des processus statistiques fournit une comparaison statistique des données de wafer pour la surveillance et le contrôle des processus. TENCOR 7200 Surfscan prend en charge une variété d'options matérielles, y compris les cartes de sonde, les systèmes de manutention des plaquettes, les stations propres et bien d'autres. Ces options matérielles permettent aux utilisateurs de personnaliser le système en fonction de leur application spécifique. En outre, l'unité offre une large gamme de logiciels développés pour répondre aux besoins exigeants de l'industrie des semi-conducteurs. Au total, 7200 Surfscan est une machine de test et de métrologie de plaquettes complète et très avancée qui est spécialement conçue pour l'industrie des semi-conducteurs exigeante d'aujourd'hui. Sa combinaison de fonctionnalités uniques, de logiciels sophistiqués et d'options matérielles en font un excellent choix pour assurer une analyse et un test précis des formats de plaquettes complexes d'aujourd'hui.