Occasion KLA / TENCOR 7600 Surfscan #293667456 à vendre en France

ID: 293667456
Style Vintage: 1994
Wafer inspection system 1994 vintage.
KLA/TENCOR 7600 L'équipement de Surfscan est un système d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour permettre l'inspection et la caractérisation de plaquettes semi-conductrices complexes. Cette unité est une forme avancée de contrôle automatique des processus en ligne qui garantit des mesures de haute précision dans un large éventail d'applications. Il utilise des technologies et des logiciels d'imagerie avancés pour fournir des mesures et des résultats précis et intuitifs. KLA 7600 Surfscan est équipé d'une machine d'imagerie 2D haute vitesse et haute résolution qui utilise des techniques laser pour fournir des images précises des caractéristiques des plaquettes, même à petites échelles. Cet outil d'imagerie a également la capacité d'effectuer une analyse des processus statiques et dynamiques grâce à son actif d'acquisition d'images dynamiques optionnel. En outre, un large éventail de paramètres d'imagerie tels que la couleur, la circularité, la granulosité, le contraste et l'épaisseur peuvent être mesurés. Le modèle TENCOR 7600 Surfscan comprend également un équipement de métrologie CCD de haute précision qui est capable de mesurer un large éventail de propriétés, y compris CD, linéarité CD, OPC, O/L, dE, modèles de masque à masque, profil 3D, et road-maptophograph. D'autres fonctionnalités comprennent une interface utilisateur intuitive et interactive, qui permet aux utilisateurs de visualiser rapidement et facilement les résultats. 7600 Surfscan système peut être configuré avec une grande variété d'options pour répondre à des exigences de processus spécifiques, tels que la manipulation automatique d'échantillons et la couture d'image. En outre, il peut être intégré avec d'autres pouvoirs de métrologie KLA pour créer des systèmes puissants de contrôle des processus et de métrologie en ligne. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR 7600 Surfscan est un appareil idéal pour l'inspection et la caractérisation des plaquettes, offrant une précision et des performances supérieures dans les tâches de mesure, d'imagerie et d'analyse. Il est équipé de capacités d'imagerie haute résolution et de métrologie, plus une interface conviviale qui le rend facile à utiliser même pour les tâches les plus complexes.
Il n'y a pas encore de critiques