Occasion KLA / TENCOR 7600M Surfscan #293626880 à vendre en France

KLA/TENCOR 7600M Surfscan est un équipement leader d'essais de plaquettes et de métrologie conçu pour diverses applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Il peut mesurer, analyser et inspecter un large éventail d'attributs sur les plaquettes semi-conductrices, y compris la topographie, la rugosité, la défectivité, le recouvrement et la dimension critique (CD). Le système fournit une gamme complète de fonctionnalités logicielles et matérielles, y compris l'imagerie haute résolution, l'analyse automatisée des images et la liste détaillée des défauts, pour permettre aux utilisateurs de prendre des décisions rapides et précises dans le contrôle des processus de wafer. Les principaux composants de KLA 7600M Surfscan sont le module de contrôle d'unité (SCM), la tête de test, les unités de vision et la machine de mouvement. Le SCM est composé des composants logiciels et matériels utilisés pour contrôler l'outil. Il peut être interfacé avec des systèmes de test externes et des systèmes de traitement de données, permettant aux utilisateurs de transférer et d'archiver les résultats des tests. La tête de test est le composant matériel responsable de l'imagerie et de la détection des défauts sur la plaquette semi-conductrice. Il fonctionne avec deux caméras pour permettre l'imagerie par contact et sans contact. Les unités de vision sont utilisées pour améliorer la résolution des images à faible grossissement, ainsi que pour la reconnaissance des motifs et la détection des défauts. L'actif de mouvement assure le positionnement et le contrôle de la surface de la plaquette pour permettre une imagerie précise. TENCOR 7600M Surfscan est capable d'analyser des plaquettes en matériaux tels que le silicium, le verre et diverses surfaces de polymère. Sa technologie d'imagerie unique, ses capacités de piquage d'images et son étalonnage d'intensité permettent aux utilisateurs d'obtenir une précision et une précision supérieures sans intervention de l'opérateur. Ce modèle comprend plusieurs applications avancées pour la détection et le contrôle des défauts, y compris la détection des défauts basée sur le classificateur pour un tri efficace et un module de reconnaissance des fonctionnalités pour identifier les paramètres critiques du processus. Il dispose également d'une gamme d'outils de configuration d'inspection de qualité pour personnaliser les tests en fonction des besoins spécifiques des clients. En outre, l'équipement est équipé d'une variété de fonctions de mesure de sécurité et de dispositifs de protection de l'environnement. 7600M Surfscan est un système fiable et polyvalent de test de plaquettes et de métrologie qui fournit des résultats très précis dans un large éventail d'applications. Ses composants avancés et efficaces, tels que le SCM, la tête d'essai, les unités de vision et la machine de mouvement, se combinent pour fournir une solution complète et précise pour le contrôle des processus de wafer. Avec cet outil, les utilisateurs peuvent obtenir une précision et une précision supérieures, automatiser le processus de test des plaquettes et réduire les coûts.