Occasion KLA / TENCOR 7700 Surfscan #293653454 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu non seulement pour mesurer, mais aussi pour inspecter, qualifier et caractériser une gamme de substrats d'échantillons. Cette plate-forme complète permet l'analyse rapide de divers matériaux pour un large éventail d'applications, y compris la production de semi-conducteurs, de panneaux plats, de solaires et de dispositifs à mémoire. Le système KLA 7700 Surfscan est alimenté par un microscope automatisé avancé, permettant des mesures optiques de haute qualité, fournissant une imagerie et une analyse détaillées. Avec des capacités de métrologie 3D supérieures et un étage matériel 5 axes, l'unité peut mesurer une variété d'interfaces de plaquettes et de topographies de surface. Un algorithme automatisé de détection de fonctionnalités permet de comparer plusieurs paramètres de mesure pour définir des mesures de qualité, contribuant à assurer le rendement le plus élevé des produits. Les algorithmes améliorés de traitement d'image augmentent encore les capacités de la machine en permettant l'évaluation d'un certain nombre de caractéristiques à l'échelle nanométrique, y compris la longueur focale, la rugosité des bords de ligne et la mesure de la taille du motif. L'outil offre également un haut niveau de flexibilité dans la recherche et l'affichage de données, avec la possibilité d'exporter des données dans différents formats, y compris PDF, .plt, .dat, et .xls. Une interface graphique intégrée et un logiciel embarqué permettent une analyse rapide de plusieurs échantillons. TENCOR 7700 Surfscan est construit avec un cadre moderne en acier léger et une architecture modulaire pour une accessibilité à 360 °, permettant une intégration facile dans les systèmes d'automatisation préexistants. Cette configuration permet une maintenance minimale, permettant des niveaux élevés de performances fiables, et le meilleur temps de disponibilité en classe. 7700 Surfscan est hautement configurable avec une gamme d'options, y compris le 7720 Automate Wafer Mapper pour augmenter le débit d'échantillon et le 7700 Edge Calibration Kit pour un étalonnage plus précis de l'actif dans la région du bord du substrat. En outre, plusieurs paquets de mise à niveau sont disponibles, y compris l'alignement automatisé, l'auto-focus, la cartographie de superposition, ainsi qu'un large éventail de technologies de métrologie. Avec ses performances robustes et ses fonctionnalités avancées, KLA/TENCOR 7700 Surfscan est un modèle fiable et puissant adapté aux applications de métrologie les plus exigeantes.