Occasion KLA / TENCOR 7700 Surfscan #9171318 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700 Surfscan est un instrument de test et de métrologie des plaquettes de pointe, conçu pour la surveillance des processus dans l'industrie des semi-conducteurs. Conçu avec des technologies de pointe, le KLA 7700 Surfscan permet de caractériser les processus avant, arrière et mince. TENCOR 7700 Surfscan se connecte facilement aux systèmes de production existants en laboratoire et fab via Ethernet, offrant aux clients la capacité de recueillir rapidement des données, d'examiner facilement les résultats et de réagir rapidement aux excursions de traitement. Il comprend des composants intégrés tels que la manipulation automatisée des plaquettes, la spectroscopie in situ, la cartographie automatisée des plaquettes et l'imagerie par faisceau ionique de focalisation. Le matériel et le logiciel de Surfscan permettent une collecte et une analyse rapides des données. Au cœur de 7700 Surfscan se trouve la tête de scan. Ceci fournit la précision pour la détection précise des signaux dans les plaquettes ou fenêtres extrêmes de 8 à 200 mm, à basse et haute pression avec des vitesses de balayage rapides allant jusqu'à 542mm/s. Ceci est rendu possible par cinq étages piézoélectriques indépendants, à haute résolution, à longue durée de vie, à balayage piézoélectrique de 400 microns utilisant la technologie brevetée KLA Single- Scan™. L'autre avantage de Single- Scan™ est la tolérance exceptionnelle au pointage, qui offre une visibilité accrue dans les couches et la composition des plaquettes. En outre, KLA/TENCOR 7700 Surfscan est équipé de deux spectromètres simultanés pour mesurer des particules aussi petites que trois nanomètres dans la gamme spectrale 50-2000nm. Les deux spectromètres comprennent une large gamme de vitesses de balayage et de densité de balayage de surface, permettant l'inspection des plaquettes jusqu'à l'échelle du micron. Les spectromètres permettent également au Surfscan d'identifier rapidement les particules, et de les classer avec précision comme silicium, organique, silicone, ou d'autres particules avec un seul balayage. Le Surfscan 7700 utilise des algorithmes avancés pour fournir un balayage tridimensionnel incroyablement précis. Ces algorithmes fonctionnent en tandem avec les capacités d'imagerie par faisceau d'ions focaux du système, fournissant une topographie incroyablement détaillée et la cartographie de la contamination des plaquettes et de leur épaisseur ou composition. Le deuxième algorithme de Surfscan contribue également à réduire le bruit et à augmenter la sensibilité, en offrant aux clients une plus grande fiabilité. Le Surfscan 7700 est un instrument de test et de métrologie de plaquettes leader sur le marché qui fournit des données rapides, précises et fiables. De ces excursions de traitement à celles qui cherchent à caractériser davantage les plaquettes à couches minces, KLA 7700 Surfscan est un outil essentiel pour la fabrication et le test des semi-conducteurs.