Occasion KLA / TENCOR 7700 Surfscan #9221363 à vendre en France

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ID: 9221363
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1996
Wafer inspection system, 8" Automatic handling, 4"– 8" Patterned / Unpatterned wafer inspection system Defects maximum resolution 0.15µ Scan pitch: Max resolution – 12.5m between scan lines XY Coordinates accuracy within 1% 30 Wafers per hour throughput High sensitivity on after-etch and high topography application Uniphase argon ion laser Low contact wafer chuck, 200mm dia Blower assembly 1996 vintage.
KLA/TENCOR 7700 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour identifier et caractériser les défauts physiques sur les plaquettes semi-conductrices. Avec un microscope de grande puissance et un logiciel de traitement d'image associé, ce système est capable de détecter et de mesurer même les caractéristiques les plus minuscules sur une plaquette. L'unité 7700 utilise une optique de pointe et une plate-forme de traitement d'images pour générer des images haute résolution à partir d'une grande variété de types de plaquettes. Il offre un champ de vision agrandi de 500 à 8,000X, permettant l'inspection et l'analyse de 20µm jusqu'à 50nm tailles caractéristiques. Les capacités d'imagerie de la machine et les logiciels puissants permettent aux utilisateurs d'effectuer des tâches critiques de détection et de classification des défauts. KLA 7700 Surfscan est équipé d'une capacité de couture d'image de niveau wafer qui permet aux utilisateurs de combiner des images de plusieurs étages en une seule image. Ce processus automatisé permet de minimiser les faux positifs et les faux négatifs tout en permettant des tests de plaquettes à haut débit. TENCOR 7700 L'outil Surfscan est convivial et dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive (UI) pour un fonctionnement facile. Cette interface graphique permet également aux utilisateurs de configurer rapidement les paramètres d'imagerie, d'établir les conditions pour différentes techniques de traitement d'image, de sélectionner les paramètres de reconnaissance des motifs et de configurer les exigences en matière de rapports. Le logiciel utilisé dans l'actif 7700 Surfscan offre de puissantes capacités de reconnaissance de motifs. Il est capable de détecter, de mesurer et d'analyser avec précision divers types de défauts, y compris les anomalies, la dispersion, la rugosité, les puits et les vides. Le modèle a également une capacité d'attribution des défauts, qui permet aux utilisateurs d'attribuer les défauts des plaquettes aux sources de traitement, donnant aux utilisateurs des informations détaillées sur la cause profonde sous-jacente. KLA/TENCOR 7700 L'équipement de surfscan est un moyen efficace, fiable et économique d'inspecter et d'analyser les plaquettes de semi-conducteurs. Ses capacités d'imagerie avancées, sa fonctionnalité de couture d'images et ses puissants algorithmes de reconnaissance de motifs en font un outil idéal pour les tests de plaquettes liées aux défauts.
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