Occasion KLA / TENCOR 7700 Surfscan #9227853 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700 Surfscan est un équipement de test et de métrologie utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour la mesure et la caractérisation optimales des puces. Le système est capable de mesurer la topographie des plaquettes semi-conductrices avancées, des matrices et des films minces avec une grande précision et précision. KLA 7700 Surfscan dispose d'une suite d'outils de métrologie qui permettent d'optimiser les processus et de détecter les défauts. Il s'agit notamment de l'inspection de profil ultra-résolution Contour Trac, de la scatterométrie multi-longueurs d'onde pour les mesures de profil et de film et de la classification automatisée des défauts. Cette machine utilise l'imagerie CCD, les étages piézo et l'optique ultraviolette pour fournir des mesures de haute précision. TENCOR 7700 Surfscan utilise une architecture logicielle unique qui garantit un niveau de performance et de stabilité plus élevé. Cette architecture consiste en une plate-forme de traitement d'image entièrement intégrée qui comprend des outils de configuration conviviaux pour configurer facilement l'outil selon les besoins de l'utilisateur. L'interface utilisateur entièrement intégrée de l'actif permet un accès direct à tous les paramètres de mesure. Cette interface utilisateur facilite également la communication avec d'autres systèmes de contrôle de processus. En outre, le modèle de Surfscan 7700 dispose d'un classificateur de défauts automatisé qui a amélioré les capacités de détection des défauts. Le classificateur de défauts automatisé utilise des algorithmes avancés de reconnaissance de motifs pour reconnaître une variété de signatures de défauts avec une précision supérieure. Ce classificateur offre également une bibliothèque flexible définie par l'utilisateur pour permettre aux utilisateurs de personnaliser leur stratégie de détection des défauts. KLA/TENCOR 7700 Les équipements de test et de métrologie des plaquettes Surfscan offrent non seulement des capacités de métrologie avancées pour aider à améliorer l'optimisation des processus, mais aussi une automatisation plus rapide du processus d'inspection. Les technologies logicielles et matérielles avancées du système garantissent une grande fiabilité et précision des résultats pour l'amélioration finale des rendements de production.