Occasion KLA / TENCOR 7700 Surfscan #9234278 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700 Surfscan est un équipement de test et de métrologie de wafer de pointe utilisé pour mesurer les caractéristiques topographiques, structurantes, superposées, dimensionnelles et défectueuses d'un appareil. Le système est capable de mesurer des structures jusqu'à 0,3 micron avec une grande précision et précision. Il est conçu pour la numérisation entièrement automatisée et la sortie de données tout en fournissant des capacités logicielles d'unité avancées pour l'analyse d'image. KLA 7700 Surfscan comprend un interféromètre à double lumière blanche unique in situ (WLI) comme principal élément d'imagerie optique. Ce WLI aide à fournir une imagerie tridimensionnelle supérieure, sans contact, et une caractérisation rapide des nanostructures et des motifs, même sur des surfaces à motifs continus. La machine intègre plusieurs attributs physiques qui permettent une vitesse et un débit de contrôle exceptionnels, tels que la grande zone de détection (2X) et plusieurs réglages de détection. L'outil peut être équipé de multiples modules d'automatisation pour diverses applications : de l'inspection d'une plaquette complète à des surfaces modelées ou non, avec ou sans cartographie. Cela lui permet de détecter et d'analyser divers défauts de surface et structures déformées de la plaquette. En outre, l'actif comprend un grand nombre de paramètres définis par l'utilisateur tels que la vitesse d'inspection, la résolution visuelle élevée, la focalisation dynamique et le balayage partiel. Tous ces paramètres peuvent être ajustés en fonction de l'application. TENCOR 7700 Surfscan dispose également de capacités logicielles avancées qui fournissent une interface utilisateur intuitive ainsi que des outils polyvalents d'analyse et de classification des défauts. Le modèle peut également être intégré avec d'autres contrôleurs rentables et des contrôleurs logiques programmables (PLC) pour l'automatisation et le contrôle des processus. En outre, il contient des capacités intégrées d'imagerie haute résolution et d'optimisation des régions locales (ORL) qui peuvent augmenter la précision globale de l'équipement et l'uniformité des résultats. En résumé, KLA 7700 est l'un des meilleurs systèmes de métrologie et de détection de plaquettes disponibles sur le marché aujourd'hui. Ses caractéristiques uniques telles que le double WLI in situ, les multiples paramètres de détection et les modules d'automatisation, les capacités logicielles avancées, les contrôleurs logiques programmables intégrés (PLC) et les capacités d'optimisation des régions locales (LRO) en font une solution fiable et rentable pour tester et analyser un large éventail de caractéristiques de surface des plaquettes.