Occasion KLA / TENCOR 7700 #9377288 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700 wafer testing and metrology equipment est un système polyvalent et performant qui fournit des tests et une métrologie efficaces des dispositifs semi-conducteurs. Il est conçu pour fournir une métrologie efficace et précise pour une variété de dispositifs, y compris les structures de transistors, les dimensions critiques, la concentration de dopants et les tests de contaminants. L'unité est capable de tester des plaquettes jusqu'à 18 pouces de diamètre avec jusqu'à huit chambres. La machine KLA 7700 est conçue avec un Wafer Handler automatique (AWH) intégré et automatisé qui permet de tester de manière efficace et fiable une variété de géométries d'appareils. L'outil peut accueillir un large éventail de mesures d'essai, comprenant l'analyse optique et électrique dans des configurations autonomes et modulaires. Le logiciel VersaMetric™ Feature Extractor de l'actif permet aux chercheurs d'extraire facilement des informations de fonctionnalités et de visualiser les résultats grâce à des écrans d'interface graphique personnalisables. Le modèle TENCOR 7700 utilise une source lumineuse ultraviolette profonde (UV) exclusive et avancée pour ses mesures. Cette source lumineuse est réglable afin de tenir compte des différents comportements des appareils, fournissant une collecte de données précise même lors de la mesure à basse ou haute température. L'option Focus Variation de l'équipement permet également d'étalonner la taille de la tache de faisceau pour tenir compte de différentes géométries de l'appareil. Pour l'analyse en ligne, le système 7700 utilise un capteur capacitif sans contact, capable de détecter des différences extrêmement faibles dans les matériaux conducteurs. Cette caractéristique permet à l'unité de tester rapidement des plaquettes pour les défauts électriques et structurels, permettant de détecter des variations structurelles subtiles ou une dégradation du dispositif au fil du temps. Dans l'ensemble, la machine KLA/TENCOR 7700 fournit une large gamme de solutions de test et de métrologie pour les dispositifs semi-conducteurs. Il utilise une variété de fonctionnalités avancées, comme le logiciel VersaMetric™ Feature Extractor et l'option Focus Variation, pour assurer des tests très précis et efficaces. Le capteur capacitif sans contact de l'outil permet l'analyse en ligne et la détection de petits défauts, améliorant la précision des résultats de l'actif.