Occasion KLA / TENCOR 7700M Surfscan #131420 à vendre en France

KLA / TENCOR 7700M Surfscan
ID: 131420
Patterned Wafer Inspection System.
KLA/TENCOR 7700M Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes haute précision et haute vitesse conçu pour fournir des mesures de surface précises et des inspections des défauts sur divers types de plaquettes semi-conductrices. Il a le débit et la résolution les plus élevés disponibles dans l'industrie et est utilisé par les fabricants de semi-conducteurs pour assurer la qualité de leurs produits. KLA 7700M Surfscan comprend plusieurs technologies de pointe qui lui permettent d'atteindre ses hautes performances. Au cœur du système se trouve l'architecture de détection multi-canaux (MDA). Il s'agit d'une conception optique qui utilise une technologie de détection avancée et des algorithmes de traitement d'image pour produire une image de la surface de la plaquette avec une précision inégalée. L'unité utilise également un étage de balayage à haute résolution spécialisé qui lui permet d'afficher rapidement la surface de la plaquette avec un maillage bidimensionnel très précis. En outre, il comprend une machine de classification automatisée des défauts qui peut être utilisée pour identifier et localiser les défauts sur la plaquette à l'aide d'algorithmes d'apprentissage automatique. L'outil est très adaptable et peut être utilisé pour mesurer divers types de plaquettes, y compris la mémoire, la logique, les circuits intégrés logiques et les applications d'affichage. Les paramètres de mesure sont également réglables en fonction du type de plaquette testée. Il est capable de collecter plusieurs métriques, y compris l'espacement de balayage, la précision de position, la rugosité de surface et la taille des défauts qui peuvent tous être utilisés pour évaluer la qualité de la plaquette. TENCOR 7700M Surfscan est un outil inestimable pour toute entreprise de semi-conducteurs cherchant à maximiser la qualité et la fiabilité de leurs produits. Il est le seul outil de test et de métrologie de wafer en son genre et fournit une précision et une vitesse inégalées, tout en étant très adaptable aux différents types de wafer. En fournissant un moyen fiable et précis d'évaluer la qualité des plaquettes, le modèle peut aider à assurer la cohérence de la fabrication et la production de produits de haute qualité.
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