Occasion KLA / TENCOR 7700M Surfscan #145603 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700M Surfscan est un équipement de test de plaquettes et de métrologie conçu pour l'analyse automatisée de surface de haute précision. Le système utilise une plate-forme d'inspection automatisée pour permettre une fonctionnalité complète, comme l'amélioration du débit et du contrôle des processus. KLA 7700M Surfscan dispose d'une unité de positionnement à deux axes à grande vitesse, avec un champ de vision de 8 "x 8" x 0,5 ". Cela permet de l'utiliser à la fois pour des essais de plaquettes à grande échelle et pour des analyses fines des caractéristiques sur les surfaces des plaquettes. La machine fournit également des aberrations haute résolution et des mesures de réseau couleur conçues pour maximiser le rendement, ainsi que des profileurs optiques et un mode de comptage des particules capable de détecter des particules jusqu'à 1 μ m. L'outil de balayage avancé de TENCOR 7700M Surfscan est conçu pour supporter des dimensions et des courbures variables, jusqu'à un diamètre de 8 pouces. En outre, il peut être utilisé pour inspecter tout échantillon ayant une surface lisse, y compris des surfaces planes, enduites ou gravées, ainsi que des surfaces non uniformes ou des objets de forme variable, tels que des plaques de circuits à feu ou des produits en plastique. 7700M La fonction d'alignement des échantillons de Surfscan permet un positionnement facile et précis des échantillons dans l'actif. Ceci est possible grâce à l'alignement automatique de l'échantillon par rapport à la caméra et aux jets de visualisation, typiquement pour des mesures inférieures à 1 mm. En outre, KLA/TENCOR 7700M Surfscan dispose d'un certain nombre de fonctionnalités logicielles pour l'inspection des plaquettes. Il est capable d'obtenir un large éventail de résultats de mesure, avec des options d'affichage de données personnalisables et un support pour l'analyse avancée des données. En outre, le modèle offre des capacités robustes d'enregistrement et de rapport de données pour permettre un stockage facile et sécurisé des résultats. Dans l'ensemble, KLA 7700M Surfscan fournit un ensemble complet de fonctionnalités pour les tests de wafer et la métrologie, conçu pour maximiser le rendement et améliorer le contrôle des processus. Son équipement automatisé traite différentes tailles de plaquettes et matériaux, tout en fournissant des capacités de mesure avancées et des fonctionnalités logicielles pour le fonctionnement manuel ou automatisé. Le système est capable d'obtenir une gamme de données permettant une analyse complète et la production de rapports pour un contrôle accru des processus.